Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля SVS 10μ
с помощью видеосистемы технического зренияс камеройавтоматизированная

Оптическая система контроля - SVS 10μ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматизированная
Оптическая система контроля - SVS 10μ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматизированная
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая, с помощью видеосистемы технического зрения
Режим функционирования
автоматизированная
Тип
для выявления неисправностей, визуальная, видео, для отражающей поверхности
Применение
для электронной промышленности
Другие характеристики
высокое разрешение, с управлением от компьютера, бесконтактная

Описание

Описание
Станция проверки AVI для лент IC-подложек, просканированных AVI-системами. SVS 10μ, CIMS AVI-проверочная станция на базе Sprint™, разработана для верификации геометрии линий/фингеров до 10 µm (оптимизировано для 10–18 µm).
Система использует комбинированный отражающий/коаксиальный канал подсветки и три диффузных канала для максимизации контраста на золотых поверхностях и паяльной маске. Оптическая схема обеспечивает точную маркировку дефектов и выбраковку бракованных единиц. Надёжная механика и специализированное оборудование обеспечивают высокий пропускной способность и стабильность работы.
SVS 10μ оснащена эргономичным, удобным интерфейсом, требующим минимального обучения. Интегрируется с CDB™ и CDBIC™ для управления данными по дефектам и выбракованным единицам, совместима со всеми AVI-системами CIMS и сторонними лазерными маркировочными установками.

Ключевые особенности
  • Гибкие конфигурации видеоподсветки для оптимального контраста
  • Автоматическая калибровка материалов
  • Стационарный вакуумный стол для стабильной обработки
  • Эргономичный дизайн для повышения эффективности оператора
  • Оптимизированное перемещение дефект–к–дефекту для сокращения времени цикла
  • Чёткое изображение дефекта и регулируемая видеоподсветка

Опции
  • Считыватель штрихкодов
  • Регулируемое положение монитора
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальная картография дефектов

Технические характеристики
  • Минимальная обнаруживаемая ширина линии/фингера: 10 µm (оптимизировано для 10–18 µm)
  • Применение: верификация лент IC-подложек, просканированных AVI-системами
  • Подсветка: отражающий/коаксиальный световой канал плюс три диффузных канала
  • Оптика: разработана для маркировки дефектов и выбраковки бракованных единиц
  • Механика и оборудование: прочная конструкция для высокого пропускного способности и эффективности
  • Интерфейс и эргономика: удобный интерфейс, требуется минимальное обучение
  • Совместимость: полностью совместима с CDB™ и CDBIC™
  • Взаимодействие: совместима со всеми AVI-системами CIMS и сторонними лазерными маркировщиками

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.