Оптическая система контроля Galaxy Fi 5Cχ
с камеройавтоматизированнаядля поверхности

Оптическая система контроля - Galaxy Fi 5Cχ - CIMS - с камерой / автоматизированная / для поверхности
Оптическая система контроля - Galaxy Fi 5Cχ - CIMS - с камерой / автоматизированная / для поверхности
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая
Режим функционирования
автоматизированная
Тип
для контроля качества, для выявления неисправностей, для поверхности
Применение
для электронной промышленности, для печатной платы
Конфигурация
линейная
Другие характеристики
высокое разрешение, с управлением от компьютера, бесконтактная

Описание

Описание
Финальная инспекция панелей для высокотехнологичных IC-подложек и HDI с ультратонкими линиями; минимальная способность инспекции линия/зазор до 5 µm. Galaxy Fi 5Cχ, новейшая панельная система финальной инспекции от CIMS, разработана для поддержки финальной инспекции продвинутых IC-подложек и HDI с ультратонкими линиями. Оснащена цветной камерой и способна сканировать технологию с шириной линия/зазор до 5 µm.
Передовая оптическая технология системы для финальной инспекции обеспечивает максимальную контрастность на панелях, покрытых паяльной маской, и произведённых с различными металлизационными процессами. Эта технология поддерживает получение высокоразрешающих изображений и обеспечивает надёжное обнаружение дефектов на лужёной меди, позолоте/OTC, паяльной маске и голом ламинате.
Оснащённая современными средствами захвата изображений и расширенными возможностями программного обеспечения, линейка Galaxy известна исключительным обнаружением при максимально низком уровне ложных срабатываний. Galaxy Fi 5Cχ работает на базе Spark™ 3.0 — инновационного кроссплатформенного движка обнаружения.

Основные характеристики
  • Линейные двигатели для плавного и бесшумного перемещения
  • Прочная механическая конструкция
  • Автоматизированный вакуумный стол
  • Прошивка для обработки изображений высокой производительности
  • Компьютер нового поколения для обработки больших объёмов данных
  • Быстрая и интуитивная настройка новых задач
  • Совместимость с автоматизацией AMHS спереди/сзади или роботами

Опции
  • +2DM™ метрология – измерение размеров панели
  • +2CD™ метрология – 2D-измерение элементов схемы
  • +3DH™ метрология – 3D-измерения высоты элементов схемы
  • +3DP™ метрология – 3D-профилирование элементов схемы
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальное картирование дефектов
  • X-WAVE™ – многоволновое освещение

Технические характеристики
  • Минимальная способность инспекции линия/зазор: 5 µm
  • Изображение: цветная камера, высокоразрешающая съёмка
  • Оптическая технология оптимизирована для паяльной маски, лужёной меди, позолоты/OTC и голого ламината
  • Движок обнаружения: Spark™ 3.0 кроссплатформенный движок обнаружения
  • Движение: линейные двигатели для плавного и бесшумного перемещения
  • Механика: прочная конструкция с автоматизированным вакуумным столом
  • Обработка: прошивка для обработки изображений высокой производительности и компьютер нового поколения для больших данных
  • Удобство: быстрая и интуитивная настройка задач
  • Автоматизация: совместимость с AMHS автоматизацией спереди/сзади или роботами
  • Доступные опции метрологии и анализа: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, CDB™/CDBIC™, X-WAVE™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.