Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля Phoenix PT/Micro
с помощью видеосистемы технического зренияс камеройавтоматическая

Оптическая система контроля - Phoenix PT/Micro - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматическая
Оптическая система контроля - Phoenix PT/Micro - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматическая
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая, с помощью видеосистемы технического зрения
Режим функционирования
автоматическая
Тип
для выявления неисправностей, для измерений, для стеклянной поверхности
Применение
для электронной промышленности, для печатной платы
Другие характеристики
высокое разрешение, с управлением от компьютера, бесконтактная

Описание

Описание продукта
Phoenix PT/Micro от CIMS — AOI-система, разработанная для инспекции фотоинструментов с ультратонкими линиями, таких как фоторисунки на плёнке и стеклянные маски. Способна обнаруживать линии/пробелы шириной до 7 µm. Поскольку маски проверяются в проходящем свете, система использует оптимизированную для проверки масок схему проходящего освещения, обеспечивая надёжное обнаружение дефектов, которые в противном случае могли бы быть перенесены на панели. Оптимальная производительность достигается сочетанием высококачественного захвата изображений, настраиваемых алгоритмов обнаружения и передовой прошивки обработки. Phoenix PT/Micro работает на Spark™ — кроссплатформенном движке обнаружения, обеспечивающем высокую детектируемость при минимальном количестве ложных срабатываний.

Ключевые особенности
  • Прозрачный или матовый стеклянный стол
  • Совместимость с широким диапазоном рам
  • Подходит для стеклянных масок и фоторисунков на плёнке
  • Прочная механическая конструкция
  • Эргономичный дизайн для оператора
  • Высокопроизводительная прошивка обработки изображений
  • Мощные процессоры для обработки больших объёмов данных
  • Быстрая и интуитивная настройка новых задач

Опции
  • Несколько размеров рам для стеклянных масок
  • Универсальный адаптер рам
  • Интегрированный трекер высоты
  • +2CD™ метрология — 2D-измерение элементов схемы
  • CDB™/CDBIC™ — классификация дефектов и виртуальная картография дефектов

Технические характеристики
  • Модель: Phoenix PT/Micro
  • Применение: AOI для фотоинструментов с ультратонкими линиями (фоторисунки на плёнке и стеклянные маски)
  • Минимальная обнаруживаемая линия/пробел: до 7 µm
  • Освещение: проходящий световой путь, оптимизированный для инспекции масок
  • Движок обнаружения: Spark™ кроссплатформенный движок обнаружения
  • Захват изображений: современная система высококачественного захвата изображений
  • Программное обеспечение: настраиваемые алгоритмы обнаружения, передовая прошивка обработки
  • Механика: прочная конструкция, эргономичный дизайн, совместимость с несколькими размерами рам
  • Опциональная метрология и классификация: +2CD™ метрология, CDB™/CDBIC™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.