Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля Galaxy Flex 15μ
с помощью видеосистемы технического зренияавтоматизированнаявидео

Оптическая система контроля - Galaxy Flex 15μ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / автоматизированная / видео
Оптическая система контроля - Galaxy Flex 15μ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / автоматизированная / видео
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
оптическая, с помощью видеосистемы технического зрения
Режим функционирования
автоматизированная
Тип
для контроля качества, для выявления неисправностей, визуальная, видео
Применение
для производства, для электронной промышленности, для печатной платы
Конфигурация
линейная
Другие характеристики
высокое разрешение, с управлением от компьютера, бесконтактная

Описание

Описание
Galaxy Flex 15μ — система AOI, разработанная для массовой инспекции гибких и жёстко‑гибких печатных плат с минимальным обнаруживаемым линией/шагом до 15 μm. Сочетая оптику Microlight™ Gen II и детекционный движок Spark™ 3.0, система обеспечивает высокое качество изображения и настраиваемые алгоритмы обнаружения для выполнения строгих требований к выявлению дефектов при минимальном числе ложных срабатываний. Galaxy Flex 15μ обеспечивает быструю настройку задач и интеграцию в автоматизированные производственные линии.

Ключевые особенности
  • Линейные моторы для плавного и бесшумного перемещения
  • Компактная механическая платформа, оптимизированная для массового производства
  • Высокопроизводимая прошивка обработки изображений
  • Улучшенный блок подсветки Microlight™ Gen II для оптимального покрытия
  • Быстрая и интуитивная настройка новых задач
  • Совместимость с фронтальной AMHS‑автоматизацией и роботизированной подачей

Опции
  • +2DM™ метрология – измерение размеров панели
  • +2CD™ метрология – 2D‑измерение элементов схемы
  • +3DH™ метрология – 3D‑измерение высоты элементов
  • +3DP™ метрология – 3D‑профилирование элементов схемы
  • LDI™ – опция инспекции лазерных отверстий
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальная карта дефектов
  • VVS™ – система виртуальной верификации

Технические характеристики
  • Применение: Automated Optical Inspection (AOI) для гибких и жёстко‑гибких печатных плат
  • Минимальная обнаруживаемая линия/шаг: 15 μm
  • Оптическая технология: подсветка Microlight™ Gen II
  • Детекционный движок: Spark™ 3.0 cross‑platform
  • Система перемещения: линейные моторы для плавного и бесшумного движения
  • Платформа: компактная механическая платформа, подходящая для массового производства
  • Обработка изображений: высокопроизводимая прошивка обработки изображений
  • Подсветка: улучшенный блок подсветки для оптимального покрытия
  • Удобство эксплуатации: быстрая и интуитивная настройка новых задач
  • Совместимость с автоматизацией: совместимо с фронтальным AMHS или роботами
  • Доступные опции метрологии и инспекции: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.