Оптическая система контроля Galaxy 5Cχ
с камеройавтоматическаядля выявления неисправностей

Оптическая система контроля - Galaxy 5Cχ - CIMS - с камерой / автоматическая / для выявления неисправностей
Оптическая система контроля - Galaxy 5Cχ - CIMS - с камерой / автоматическая / для выявления неисправностей
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая
Режим функционирования
автоматическая
Тип
для контроля качества, для выявления неисправностей
Применение
для электронной промышленности, для печатной платы
Конфигурация
линейная
Другие характеристики
высокое разрешение, бесконтактная

Описание

Описание
Автоматическая оптическая инспекция (AOI) для подложек ИС. Galaxy 5Cχ поддерживает минимальную технологию линия/шаг до 5 µm. Разработан для высокообъемного производства, сочетает высокоразрешающую цветную съёмку с передовой оптикой и движком детекции для выявления дефектов процесса и сборки на современных подложках.

Ключевые возможности
  • Инспекция до 5 µm линия/шаг для передовых технологий подложек ИС
  • Высокопрозрачная цветная камера для улучшенного распознавания элементов
  • Оптическая технология Prisma™ Gen II для гибкого освещения и максимального контраста
  • Движок обнаружения Spark™ 3.0 кросс‑платформенный с настраиваемыми алгоритмами
  • Оптимальный баланс между разрешением и скоростью сканирования для высокого пропускного потока


Особенности
  • Линейные двигатели для плавного и тихого перемещения
  • Компактная механическая платформа для интеграции на производстве
  • Аппаратное обеспечение 6-го поколения для повышенной производительности и надежности
  • Улучшенный блок подсветки с опцией многоволнового освещения X-WAVE™
  • Быстрая и интуитивная настройка задач для сокращения времени переналадки
  • Совместимость с фронтальной автоматизацией AMHS или роботизированной подачей


Опции
  • Fi™ — опция финальной инспекции для готовых плат
  • +2DM™ метрология — измерение размеров панели
  • +2CD™ метрология — 2D‑измерение элементов схемы
  • +3DH™ метрология — 3D‑измерение высоты элементов схемы
  • +3DP™ метрология — 3D‑профилирование элементов схемы
  • LDI™ — опция инспекции лазерного сверления
  • CDB™ / CDBIC™ — классификация дефектов и виртуальная карта дефектов
  • VVS™ — система виртуальной верификации
  • X-WAVE™ — опция многоволнового освещения


Технические характеристики
  • Применение: автоматизированная оптическая инспекция (AOI) для подложек ИС
  • Минимальная способность линия/шаг: 5 µm
  • Камера: высокоразрешающая цветная камера
  • Оптическая технология: Prisma™ Gen II (гибкое освещение, высокий контраст)
  • Движок обнаружения: Spark™ 3.0 (кросс‑платформенный, настраиваемые алгоритмы)
  • Система движения: линейные двигатели для плавного, тихого перемещения
  • Механический дизайн: компактная платформа, подходящая для интеграции
  • Аппаратное поколение: 6‑е поколение аппаратуры
  • Подсветка: улучшенный блок подсветки; X-WAVE™ опционально
  • Опции метрологии: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™
  • Дополнительные опции: Fi™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™
  • Совместимость с автоматизацией: совместим с фронтальной AMHS автоматизацией или роботизированной подачей

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.