Оптическая система контроля SVS 4μ
с помощью видеосистемы технического зренияс камеройавтоматизированная

Оптическая система контроля - SVS 4μ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматизированная
Оптическая система контроля - SVS 4μ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматизированная
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая, с помощью видеосистемы технического зрения
Режим функционирования
автоматизированная
Тип
для контроля качества, для выявления неисправностей, для обнаружения дефектов поверхностей, видео, для отражающей поверхности, сварки, для маркировки
Применение
для электронной промышленности
Другие характеристики
высокое разрешение

Описание

Описание
SVS 4μ — AVI станция верификации для подложек ИС, разработанная для проверки полос, отсканированных AVI-системами. На базе Sprint™, станция оптимизирована для технологий с шириной линий/пальцев от 4 µm до 8 µm. Система подсветки сочетает отражающий/коаксиальный канал с тремя отдельными диффузными каналами для максимального контраста на золотых поверхностях и паяльной маске. Оптическая схема поддерживает маркировку дефектов или списание дефектных единиц. Прочная механика и промышленное оборудование обеспечивают высокий пропуск и надежную работу. Пользовательский интерфейс эргономичен и требует минимального обучения. SVS 4μ полностью совместима с CDB™ и CDBIC™ и может работать с AVI-системами CIMS, а также с лазерными маркировочными машинами третьих сторон.

Ключевые особенности
  • Гибкие конфигурации видеоосвещения
  • Автоматическая калибровка материалов
  • Стационарный вакуумный стол для стабильной обработки
  • Эргономичный дизайн оператора
  • Оптимизированное перемещение «дефект–к–дефект» для пропускной способности
  • Четкое изображение дефекта с регулируемой видео-подсветкой

Опции
  • Считыватель штрихкодов
  • Регулируемая позиция монитора
  • CDB™/CDBIC™ — классификация дефектов и виртуальное картирование дефектов

Технические характеристики
  • Минимальная ширина линии/пальца: 4 µm (оптимизировано для 4–8 µm)
  • Подсветка: отражающий/коаксиальный световой канал плюс три отдельных диффузных канала
  • Оптика: поддерживает маркировку дефектов или списание дефектных единиц
  • Механика и оборудование: промышленная конструкция для высокой пропускной способности и надежности
  • Пользовательский интерфейс: эргономичный, удобный, требуется минимальное обучение
  • Совместимость: совместимо с AVI-системами CIMS и лазерными маркировочными машинами третьих сторон; полностью совместимо с CDB™ и CDBIC™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.