Оптическая система контроля Galaxy 25μ
автоматическаядля измеренийдля выявления неисправностей

Оптическая система контроля - Galaxy 25μ - CIMS - автоматическая / для измерений / для выявления неисправностей
Оптическая система контроля - Galaxy 25μ - CIMS - автоматическая / для измерений / для выявления неисправностей
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
оптическая
Режим функционирования
автоматическая
Тип
для контроля качества, для выявления неисправностей, для измерений
Применение
для электронной промышленности, для печатной платы
Конфигурация
линейная
Другие характеристики
высокое разрешение, с управлением от компьютера, бесконтактная

Описание

Описание
AOI для HDI и многослойных печатных плат с минимальным линия/зазор до 25 µm. Galaxy 25μ, AOI-система CIMS, разработана для поддержки крупносерийного производства HDI и высококлассных многослойных плат. Она способна сканировать технологии с шириной линия/зазор до 25 µm.
Передовая оптическая технология Microlight™ Gen II обеспечивает оптимальное освещение для выполнения самых строгих требований к обнаружению. Оптимальная производительность достигается сочетанием превосходного качества изображения и настраиваемых алгоритмов обнаружения.
Оснащённая современным оборудованием для захвата изображений и продвинутыми программными возможностями, линейка Galaxy известна исключительными показателями обнаружения при максимально низком уровне ложных срабатываний. Galaxy 25μ работает на Spark™ 3.0 – новейшем кроссплатформенном детектирующем движке CIMS.

Ключевые особенности
  • Линейные моторы для плавного и бесшумного перемещения
  • Компактная механическая платформа
  • Высокопроизводительная прошивка обработки изображений
  • Улучшенный блок подсветки (Microlight™ Gen II)
  • Быстрая и интуитивная настройка новых задач
  • Совместимость с фронтальной автоматизацией AMHS или роботами

Опции
  • Fi™ – опция окончательной инспекции для готовых плат
  • +2DM™ метрология – измерение размеров панели
  • +2CD™ метрология – 2D-измерение элементов цепи
  • LDI™ – опция инспекции лазерных сверлений
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальная карта дефектов
  • VVS™ – система виртуальной верификации

Характеристики / технические спецификации
  • Применение: Automated Optical Inspection (AOI) для HDI и многослойных печатных плат
  • Минимально обнаруживаемая линия/зазор: до 25 µm
  • Оптическая технология: Microlight™ Gen II, усиленное освещение для оптимального покрытия
  • Детектирующий движок: Spark™ 3.0 кроссплатформенный детектирующий движок
  • Захват изображения: современное оборудование для захвата изображений и продвинутые программные возможности
  • Производительность: исключительное обнаружение при низком уровне ложных срабатываний благодаря превосходному качеству изображения и настраиваемым алгоритмам обнаружения
  • Система перемещения: линейные моторы для плавного и бесшумного движения
  • Механическая конструкция: компактная механическая платформа, подходящая для крупносерийного производства
  • Программное обеспечение/прошивка: высокопроизводительная прошивка обработки изображений; быстрая и интуитивная настройка задач
  • Совместимость с автоматизацией: совместимо с фронтальной автоматизацией AMHS или интеграцией роботов
  • Доступные опции инспекции/метрологии: окончательная инспекция (Fi™), 2D-метрология панели и элементов цепи (+2DM™, +2CD™), инспекция лазерных сверлений (LDI™), классификация и картирование дефектов (CDB™/CDBIC™), виртуальная верификация (VVS™)

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.