Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля Galaxy Flex 25μ
автоматизированнаяроботизированнаядля обнаружения дефектов поверхностей

Оптическая система контроля - Galaxy Flex 25μ - CIMS - автоматизированная / роботизированная / для обнаружения дефектов поверхностей
Оптическая система контроля - Galaxy Flex 25μ - CIMS - автоматизированная / роботизированная / для обнаружения дефектов поверхностей
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
оптическая
Режим функционирования
автоматизированная, роботизированная
Тип
для контроля качества, для выявления неисправностей, для обнаружения дефектов поверхностей, для измерений
Применение
для производства, для электронной промышленности, для печатной платы
Конфигурация
линейная
Другие характеристики
высокое разрешение, с управлением от компьютера

Описание

Описание
AOI для инспекции гибких и rigid‑flex печатных плат с минимальной возможностью линия/зазор до 25 мкм. Galaxy Flex 25μ — CIMS AOI‑система, разработанная для серийного производства гибких и rigid‑flex плат. Система сканирует технологии с шагом линии/зазора 25 мкм и оснащена оптическим модулем Microlight™ Gen II для оптимизированного освещения при сложных задачах детектирования. В сочетании с настраиваемыми алгоритмами обнаружения платформа обеспечивает высокоразрешающую съёмку изображений и точную идентификацию дефектов. Galaxy Flex 25μ работает на движке обнаружения Spark™ 3.0 (cross‑platform) для обеспечения стабильных рабочих процессов детекции.

Основные характеристики
  • Линейные моторы для плавного и бесшумного перемещения
  • Компактная механическая платформа
  • Прошивка высокой производительности для обработки изображений
  • Усиленный блок подсветки (Microlight™ Gen II)
  • Быстрая и интуитивная настройка новых заданий
  • Совместимость с фронт‑AMHS автоматизацией или роботизированной обработкой

Опции
  • +2DM™ метрология – измерение размеров панели
  • +2CD™ метрология – 2D‑измерение элементов схемы
  • LDI™ – опция инспекции лазерных засверловок
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальная карта дефектов
  • VVS™ – система виртуальной верификации

Характеристики / технические спецификации
  • Тип продукта: AOI (Automated Optical Inspection) для гибких и rigid‑flex печатных плат
  • Минимальная возможность линия/зазор: 25 мкм
  • Оптическая технология: Microlight™ Gen II (усиленное освещение для строгой детекции)
  • Движок детекции: Spark™ 3.0 (cross‑platform detection engine)
  • Целевая нагрузка: Разработан для массового производства
  • Съёмка изображений и ПО: Высококачественная съёмка с продвинутыми программными возможностями
  • Производительность детекции: Высокая чувствительность обнаружения при низком уровне ложных срабатываний
  • Система движения: Линейные моторы для плавного и бесшумного перемещения
  • Механическая конструкция: Компактная механическая платформа
  • Совместимость с автоматизацией: Совместим с фронт‑AMHS автоматизацией или роботизированной интеграцией
  • Доступные опции: +2DM™, +2CD™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.