Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля Galaxy R2R 25μ
с камеройавтоматизированнаяроботизированная

Оптическая система контроля - Galaxy R2R 25μ - CIMS - с камерой / автоматизированная / роботизированная
Оптическая система контроля - Galaxy R2R 25μ - CIMS - с камерой / автоматизированная / роботизированная
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая
Режим функционирования
автоматизированная, роботизированная
Тип
для контроля качества, для выявления неисправностей, для измерений
Применение
для электронной промышленности, для печатной платы
Конфигурация
линейная
Другие характеристики
высокое разрешение

Описание

Описание
Автоматическая оптическая инспекция (AOI) для гибких печатных плат (FPC) в рулонном (roll-to-roll) производстве. Galaxy R2R 25 µm — AOI-система, разработанная для roll-to-roll изготовления flex и rigid-flex PCB, способная обнаруживать линии/шаги до 25 µm. Подсветка Microlight™ Gen II обеспечивает равномерное освещение для выполнения строгих требований к обнаружению. В сочетании с высококачественным захватом изображений и детекционной платформой Spark™ 3.0 система обеспечивает точное выявление дефектов при низком уровне ложных срабатываний. Совместима с фронтальным AMHS или роботами для интеграции в линию производства.

Основные характеристики
  • Линейные двигатели для плавного и бесшумного движения
  • Компактная механическая платформа
  • Высокопроизводительная прошивка обработки изображений
  • Улучшенный блок освещения (Microlight™ Gen II)
  • Быстрая и интуитивная настройка новых заданий
  • Совместимость с фронтальной AMHS-автоматизацией или роботами

Опции
  • +2DM™ метрология – измерение размеров панелей
  • +2CD™ метрология – 2D-измерение элементов цепи
  • LDI™ – опция инспекции лазерного сверления
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальная карта дефектов
  • VVS™ – система виртуальной верификации

Технические характеристики
  • Тип инспекции: автоматическая оптическая инспекция (AOI) для FPC в roll-to-roll процессах
  • Минимальное обнаружение линия/шаг: 25 µm
  • Поддерживаемые подложки: flex и rigid-flex PCB
  • Оптическая технология: Microlight™ Gen II освещение
  • Детекционный движок: Spark™ 3.0
  • Съёмка изображений: высококачественное оборудование захвата изображений
  • Программное обеспечение: продвинутые алгоритмы обнаружения с низким уровнем ложных срабатываний
  • Система перемещения: линейные двигатели для плавного и бесшумного движения
  • Механика: компактная платформа
  • Совместимость: совместима с фронтальной AMHS-автоматизацией или роботами
  • Опциональная метрология: +2DM™ (размеры панелей), +2CD™ (2D-элементы схемы)
  • Опциональные модули инспекции: LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.