Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля Galaxy Fi 10Cχ
с помощью видеосистемы технического зренияс камеройавтоматизированная

Оптическая система контроля - Galaxy Fi 10Cχ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматизированная
Оптическая система контроля - Galaxy Fi 10Cχ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматизированная
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая, с помощью видеосистемы технического зрения
Режим функционирования
автоматизированная, роботизированная
Тип
качества, для контроля качества, для выявления неисправностей, для обнаружения дефектов поверхностей, видео
Применение
для электронной промышленности, для печатной платы
Конфигурация
линейная
Другие характеристики
высокое разрешение, с управлением от компьютера, бесконтактная

Описание

Описание
Финальная проверка панелей для продвинутых IC-подложек и HDI с ультра-тонкими линиями; минимальная обнаруживаемая линия/шаг — 10 µm. Galaxy Fi 10Cχ, панельная система финальной инспекции от CIMS, оснащена высокоразрешающей цветной камерой и оптимизированной оптикой для максимального контраста на панелях с лаковым маскированием и различными металлическими покрытиями. Система обеспечивает надёжное обнаружение дефектов на лужёной меди, золочёных или OTC покрытиях, лаковом маскировании и открытом ламинате.

Основные преимущества
  • Линейные моторы для плавного и бесшумного перемещения
  • Прочная механическая конструкция
  • Автоматический вакуумный стол для безопасной обработки
  • Высокопроизводительная прошивка для обработки изображений
  • Компьютер следующего поколения для обработки больших объёмов данных
  • Быстрая и интуитивная настройка новых заданий
  • Совместимость с фронт/бек AMHS автоматизацией или роботом


Опции
  • 2DM™ metrology – измерение размеров панели
  • 2CD™ metrology – 2D-измерение элементов схемы
  • 3DH™ metrology – 3D-измерение высоты элементов схемы
  • 3DP™ metrology – 3D-профилирование элементов схемы
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальная карта дефектов
  • X-WAVE™ – многоволновое освещение


Технические характеристики
  • Семейство продуктов: Galaxy Fi series (системы финальной инспекции)
  • Модель: Galaxy Fi 10Cχ
  • Применение: финальная проверка панелей для продвинутых IC-подложек и HDI с ультра-тонкими линиями
  • Минимальная обнаруживаемая линия/шаг: 10 µm
  • Камера: цветная камера с высокоразрешающим захватом изображения
  • Оптика: максимизированный контраст на лаковом маскировании; поддержка лужёной меди, золочёных или OTC покрытий, лаков и открытого ламината
  • Движок обнаружения: Spark™ 3.0 (кросс-платформенный движок обнаружения)
  • Привод: линейные моторы для плавного и бесшумного движения
  • Механика: прочная механическая структура
  • Обработка: автоматический вакуумный стол
  • Процессинг: компьютер следующего поколения для больших данных; высокопроизводительная прошивка обработки изображений
  • Юзабилити: быстрая и интуитивная настройка новых заданий
  • Совместимость с автоматизацией: совместимо с фронт/бек AMHS или роботом
  • Доступные опции метрологии: 2DM™, 2CD™, 3DH™, 3DP™
  • Доступные опции инспекции/анализа: CDB™/CDBIC™; X-WAVE™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.