Оптическая система контроля Galaxy 15μ

автоматизированнаядля измеренийдля выявления неисправностей

Описание
AOI для HDI и тонкопроводных PCB с минимальной способностью линии/шага до 15 µm. Galaxy 15μ, AOI-система CIMS, разработана для поддержки крупносерийного производства современных HDI и тонкопроводных PCB. Способна сканировать элементы до 15 µm линия/шаг при сохранении стабильной производительности.

Ключевые особенности

• Линейные двигатели для плавного и бесшумного перемещения
• Компактная механическая платформа
• Высокопроизводительная прошивка обработки изображений
• Улучшенный осветительный блок Microlight Gen II™ для равномерного покрытия
• Быстрая и интуитивно понятная настройка задач
• Совместимость с фронтальной AMHS-автоматизацией или роботом

Опции

• Fi™ – опция финальной инспекции для готовых плат
• +2DM™ метрология – измерение размеров панелей
• +2CD™ метрология – 2D-измерение элементов схемы
• +3DH™ метрология – 3D-измерение высоты элементов схемы
• +3DP™ метрология – 3D-профилирование элементов схемы
• LDI™ – опция инспекции лазерных сверлений
• CDB/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальная картография дефектов
• VVS™ – система виртуальной верификации

Технические характеристики

• Применение: автоматизированная оптическая инспекция (AOI) для HDI и тонкопроводных PCB
• Минимальная способность линия/шаг: 15 µm
• Оптическая технология: освещение Microlight Gen II™
• Движок детекции: Spark™ 3.0 cross-platform detection engine
• Система движения: линейные двигатели для плавного и бесшумного перемещения
• Механика: компактная механическая платформа
• Обработка изображений: высокопроизводительная прошивка обработки изображений
• Освещение: улучшенный осветительный блок, рассчитанный на строгие требования детекции
• Настройка: быстрая и интуитивная настройка задач
• Совместимость с автоматизацией: совместимо с фронтальной AMHS-автоматизацией или роботом
• Доступные опции: Fi™, +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB/CDBIC™, VVS™