Оптический прибор для контроля AIVR 5μ
видеодля полупроводникадля полупроводниковой пластины с рисунком структуры

Оптический прибор для контроля - AIVR 5μ - CIMS - видео / для полупроводника / для полупроводниковой пластины с рисунком структуры
Оптический прибор для контроля - AIVR 5μ - CIMS - видео / для полупроводника / для полупроводниковой пластины с рисунком структуры
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
оптический, видео
Применение
для полупроводниковой пластины с рисунком структуры, для полупроводника
Сектор
для электронной промышленности
Другие характеристики
высокое разрешение, с поддержкой ИИ

Описание

Описание
AIVR — это CIMS-станция верификации на базе ИИ, объединяющая виртуальную и физическую верификацию в одной рабочей станции. CIMS AIVR 5μ разработана для поддержки крупносерийного производства IC-подложек и оптимизирована для верификации технологий с линией/шагом 5–25 мкм. В режиме AIVR оператор просматривает изображения дефектов, полученные AOI и обработанные алгоритмами улучшения изображения на основе ИИ, что позволяет быстро отсеивать очевидные ложные срабатывания. Применение AIVR повышает эффективность и скорость верификации и интегрирует результаты с производственной базой данных. Опциональный сенсорный экран обеспечивает быструю классификацию дефектов и обратную связь QA в реальном времени. AIVR 5μ совместима со всеми AOI CIMS.

Основные характеристики
  • Объединяет верификацию постобработанных AOI-изображений с режимом живого видео
  • До 90% увеличения эффективности верификации по сравнению с традиционным режимом
  • Отображение улучшенных ИИ высокоразрешающих цветных изображений дефектов, получаемых непосредственно с AOI
  • Переменный зум и автоматическая калибровка
  • Стационарный вакуумный стол
  • Эргономичный дизайн
  • Четкое изображение дефекта с регулируемой видеоподсветкой

Опции
  • Автомаркер для маркировки дефектов
  • Считыватель штрих-кодов
  • Регулируемый кронштейн монитора
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальное картирование дефектов
  • SharpLight™ – улучшенное видеоизображение

Технические характеристики
  • Модель: AIVR 5μ
  • Применение: станция верификации AOI на базе ИИ для IC-подложек
  • Поддерживаемая технология линия/шаг: 5–25 мкм
  • Режимы верификации: виртуальная и физическая верификация в одной станции; постобработанные AOI-изображения и живое видео
  • Функции: улучшение изображения на основе ИИ, переменный зум, автоматическая калибровка, стационарный вакуумный стол, эргономичный дизайн, регулируемая видеоподсветка
  • Совместимость: Совместима со всеми AOI CIMS
  • Опциональный сенсорный экран для классификации дефектов и обратной связи QA в реальном времени
  • Опции: Автомаркер, Считыватель штрих-кодов, Регулируемый кронштейн монитора, CDB™/CDBIC™, SharpLight™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.