{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.defLight}}
{{#if company.requestButtonsVisibility.requestButtonQuestion == "ACTIVE"}}
{{elseif company.requestButtonsVisibility.requestButtonWhereToBuy == "ACTIVE"}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.defLight}}
{{#if company.requestButtonsVisibility.requestButtonQuestion == "ACTIVE"}}
{{elseif company.requestButtonsVisibility.requestButtonWhereToBuy == "ACTIVE"}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
автоматический прибор для контроля / CD-SEM / для измерений
автоматический прибор для контроля
RecipeDirector

... Внедрение продуктовой линейки метрологической системы на основе проектирования Рецепт-директор: Автоматическое создание рецептов CD-SEM с использованием проектных данных DesignGauge-Analyzer(DG-A): Поддержка оценки OPC и оптимизация ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies Europe
прибор для контроля CD-SEM / для полупроводниковой пластины / для измерений / высокое разрешение
прибор для контроля CD-SEM
CD-SEM CG5000

... Новый CD-SEM, разработанный для узлов с технологией менее 22 нм и выше. Усовершенствованная система измерения компакт-дисков CEM CG5000 (HITACHI CD-SEM) обеспечивает высокое разрешение, высокую пропускную способность и воспроизводимость ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies Europe
прибор для контроля DR-SEM / для полупроводниковой пластины без рисунка структуры / дефектов / высокоскоростной
прибор для контроля DR-SEM
CR6300

... Анализ дефектов SEM с использованием высокоскоростной электромагнитной модуляции ADR (автоматический анализ дефектов) и высокая точность ADC (Automatic Дефект Classification)can следует использовать в линию для повышения урожайности. Он ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Technologies Europe
автоматический прибор для контроля / для микроинструмента / для измерений
автоматический прибор для контроля
pomBasic

»pomBasic« Компактное решение для универсальной проверки инструмента Прибор проверки ZOLLER »pomBasic« для ориентируемого на процесс измерения и осмотра дрелей, мукомольных резаков и зенковок при аварийном освещении. С его компактным ...

оптический прибор для контроля / видео / для микроинструмента
оптический прибор для контроля
pomBasicMicro

»pomBasicMicro« Компактное решение для инспекции микроинструментов ZOLLER »pomBasicMicro« – это компактная контрольно-измерительная машина производства компании ZOLLER, предназначенная для контроля и измерения микроинструментов. ...

прибор для контроля с рентгеновским излучением / цифровая томография / для измерений
прибор для контроля с рентгеновским излучением
XT H 225

... XT H 160 начального уровня и универсальные системы XT H 225 предлагают источник микрофокусного рентгеновского излучения, большой объем контроля, высокое разрешение изображения и готовы к сверхбыстрой реконструкции КТ. Они охватывают широкий ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
прибор для контроля с рентгеновским излучением / цифровая томография
прибор для контроля с рентгеновским излучением
XT H 225 ST

... XT H 225 ST - это система компьютерной томографии (КТ), идеально подходящая для широкого диапазона материалов и размеров образцов, особенно тех, которые слишком велики или тяжелы для других систем в диапазоне. Система имеет три взаимозаменяемых ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
прибор для контроля с рентгеновским излучением / цифровая томография
прибор для контроля с рентгеновским излучением
XT H 320

... XT H 320 оснащен более мощным микрофокусным рентгеновским источником, позволяющим проводить высокоточный контроль плотных промышленных объектов. Nikon Metrology - единственная компания, производящая источники микрофокусного рентгеновского ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
оптический прибор для контроля / для пластиковой пленки / линейный
оптический прибор для контроля
FQA

Анализатор качества плёнки: оптический поточный анализ в лаборатории и на производстве Анализатор качества плёнки Brabender выполняет поточный оптический анализ качества выдувных и плоских плёнок в лабораторных и производственных условиях. Анализатор ...

прибор для контроля с рентгеновским излучением / цифровая томография
прибор для контроля с рентгеновским излучением
SKYSCAN1275

... Небоскрёб 1275 Полностью автоматизированный высокоскоростной рентгеновский микротомограф Рентгеновская микрокомпьютерная томография является одним из самых современных методов получения трехмерного представления о образцах любого материала, ...

прибор для контроля с рентгеновским излучением / цифровая томография / высокое разрешение
прибор для контроля с рентгеновским излучением
SKYSCAN 1272

оптический прибор для контроля / для шины / дефектов / линейный
оптический прибор для контроля
TGI 8302.LLT

... TGI 8302.LLT предназначен для контроля геометрии шин, например, для измерения радиального или бокового дисбаланса. Он также предназначен для обнаружения выступов боковых стенок, сужений, вмятин и так далее. Это одна из самых важных проверок ...

Показать другие изделия
MICRO-EPSILON
оптический прибор для контроля / для шины / для измерений / дефектов
оптический прибор для контроля
TCP 8301.I

... Профилометр толщиныCONTROL TCP 8301.I был разработан для измерения толщины и толщины профиля в экструзионных линиях и небольших линиях каландрирования. Система основана на принципе оптической триангуляции и содержит лазерные источники ...

Показать другие изделия
MICRO-EPSILON
прибор для контроля для полупроводниковой пластины
прибор для контроля для полупроводниковой пластины
2 - 5 mm

... Система контроля краев пластин позволяет с высокой точностью измерить поверхность пластин с помощью трех камер обработки изображений. Таким образом, дефекты длиной более 300 нм надежно обнаруживаются. Неисправные пластины могут существенно ...

Показать другие изделия
MICRO-EPSILON
прибор для контроля с рентгеновским излучением / для упаковочного оборудования / с ленточным конвейером
прибор для контроля с рентгеновским излучением
BASELINE I 100

... КАТЕГОРИЯ рентгеновские системы контроля Рентгеновская досмотровая система BASELINE I 100 представляет собой компактную компактную модель для обнаружения посторонних предметов. Он подходит для использования с первичными и вторичными упаковками ...

прибор для контроля с рентгеновским излучением / для производства упаковки / высокое разрешение / высокоскоростной
прибор для контроля с рентгеновским излучением
I 110

... КАТЕГОРИЯ рентгеновские системы контроля Система рентгеновского контроля I 110 подходит для обнаружения посторонних предметов в упаковках и лотках. Он отличается высокой скоростью проверки и может использоваться для сканирования документов ...

автоматизированный прибор для контроля / оптический / для поверхности
автоматизированный прибор для контроля
ZEISS SurfMax

прибор для контроля для зубчатых передач
прибор для контроля для зубчатых передач

автоматический прибор для контроля / для коленчатого вала
автоматический прибор для контроля
300 MBRK Series

автоматизированный прибор для контроля / для печатной платы / для измерений
автоматизированный прибор для контроля
E-6000 Series

... Быстрое увеличение плотности антенны жесткого диска (Hard Disk Drive) требует усовершенствованных решений по структурированию для производства тонкопленочных головок. Это делает полупроводниковые процессы передовыми в индустрии жестких ...

Показать другие изделия
HITACHI Industrial Components & Equipment
прибор для контроля CD-SEM / для электроники / для измерений / высокое разрешение
прибор для контроля CD-SEM
SEM CG5000

... Усовершенствованная система измерения компакт-дисков CEM CG5000 (HITACHI CD-SEM) обеспечивает высокое разрешение, высокую пропускную способность и воспроизводимость благодаря использованию усовершенствованной электронной оптики, усовершенствованной ...

Показать другие изделия
HITACHI Industrial Components & Equipment
автоматический прибор для контроля / для полупроводниковой пластины / дефектов
автоматический прибор для контроля
SEM CR6300

... Анализ дефектов SEM с использованием высокоскоростной электромагнитной модуляции ADR (автоматический анализ дефектов) и высокая точность ADC (Automatic Дефект Classification)can следует использовать в линию для повышения урожайности. Он ...

Показать другие изделия
HITACHI Industrial Components & Equipment
прибор для контроля с рентгеновским излучением / высокое разрешение / 3D
прибор для контроля с рентгеновским излучением
phoenix nanome|x

... Phoenix nanome|x - это рентгеновская инспекционная система ультравысокого разрешения 180 кВ с нанофокусом, предназначенная для проверки высококачественных узлов и соединений в полупроводниковой и SMT отраслях промышленности. Система обладает ...

Показать другие изделия
Inspection Technologies
прибор для контроля с рентгеновским излучением / для печатной платы / высокое разрешение
прибор для контроля с рентгеновским излучением
phoenix microme|x

Показать другие изделия
Inspection Technologies
прибор для контроля с рентгеновским излучением / для печатной платы / высокое разрешение
прибор для контроля с рентгеновским излучением
phoenix x|aminer

Показать другие изделия
Inspection Technologies
прибор для контроля с рентгеновским излучением / автоматизированный / для производства напитков
прибор для контроля с рентгеновским излучением
Dymond D

The Dymond D side shooters offer reliable detection of foreign objects in tall, upright packaging. The compact hygienic design, interfaces and reliable image processing at high speeds allow for efficient integration into automated production ...

Показать другие изделия
Minebea Intec
прибор для контроля с рентгеновским излучением / для производства упаковки / для пищевой промышленности / с ленточным конвейером
прибор для контроля с рентгеновским излучением
Dymond

Серия систем Dymond для рентгеноскопического контроля обладает невероятной гибкостью в применении. Из 4 моделей серии можно подобрать подходящую почти для любых задач по проверке упакованных продуктов. Ширина ленты до 800 мм позволяет ...

Показать другие изделия
Minebea Intec
прибор для контроля с рентгеновским излучением / для производства упаковки / для пищевой промышленности / линейный
прибор для контроля с рентгеновским излучением
Dylight

Система рентгеноскопического контроля Dylight гарантирует высочайший уровень безопасности для ваших упакованных продуктов питания. Это действительно готовое к использованию решение, сочетающее все функции в одном компактном устройстве. Очень ...

Показать другие изделия
Minebea Intec
прибор для контроля с рентгеновским излучением / для измерений
прибор для контроля с рентгеновским излучением
SMX-1000 Plus

прибор для контроля с рентгеновским излучением / автоматический / для крупных деталей / для авиационно-космической промышленности
прибор для контроля с рентгеновским излучением
YXLON MU60 AE

... Промышленная рентгеновская и колтюбинговая инспекционная система для аэрокосмической и литейной промышленности YXLON MU60 AE - это компактная промышленная рентгеновская и компьютерная томографическая (КТ) инспекционная система, предназначенная ...

полуавтоматический прибор для контроля / для полупроводниковой пластины / для полупроводника
полуавтоматический прибор для контроля
Proforma 300SA

... Proforma 300SA является прибором, изготовленным компанией MTI. Он обеспечивает сканирование всей поверхности пластин одним нажатием кнопки. Применяется как для полупроводниковых, так и для полуизолирующих пластинчатых материалов. Он способен ...

визуальный прибор для контроля / для полупроводниковой пластины
визуальный прибор для контроля
GEMINI

... Повысить эффективность производства Для управления процессами, зависящими от пластин, и оптимизации статистических процессов при производстве солнечных пластин и элементов имеет смысл проанализировать структуру зерен многокристаллических ...

визуальный прибор для контроля / для полупроводниковой пластины / дефектов
визуальный прибор для контроля

... Мы рады сообщить, что наша деятельность в области фотолюминесцентного сканера была отмечена премией Семикрон за инновации 2016 года на конференции по силовой электронике PCIM в Нюрнберге. Официальный пресс-релиз можно найти здесь. Повысить ...

визуальный прибор для контроля / для печатной платы / дефектов / для измерений
визуальный прибор для контроля

... Для установки высокопроизводительной микроэлектроники в высокотемпературных условиях требуется использование керамических печатных плат. Важным критерием является механическая целостность изготавливаемых и нагруженных компонентами керамических ...

прибор для контроля с рентгеновским излучением / цифровая томография / для электроники / для авиационно-космической промышленности
прибор для контроля с рентгеновским излучением
EasyTom S

... Самая компактная колтюбинговая система на рынке в сочетании с невероятным объемом сканирования ! Будь то для контроля качества, исследования компонентов или решения проблем проектирования, RX Solutions обладает особым опытом во многих ...

Показать другие изделия
RX Solutions
прибор для контроля с рентгеновским излучением / цифровая томография / для электроники / для авиационно-космической промышленности
прибор для контроля с рентгеновским излучением
Easytom

... Легко сканировать большие образцы и решать задачи высокого разрешения с помощью колтюбинговой системы, способной достигать разрешения 350 нм! Система EasyTom CT - лучшая Будь то для контроля качества, исследования компонентов или решения ...

Показать другие изделия
RX Solutions
прибор для контроля с рентгеновским излучением / цифровая томография / высокое разрешение
прибор для контроля с рентгеновским излучением
EasyTom XL

Показать другие изделия
RX Solutions
прибор для контроля с рентгеновским излучением / цифровая томография
прибор для контроля с рентгеновским излучением
X3000

оптический прибор для контроля / автоматический / для печатной платы / для электроники
оптический прибор для контроля
TV350

... TV350 - это автоматическая машина для оптического контроля (АОИ) печатных плат производства компании Beijing Torch SMT Co. Этот продукт используется для проверки неквалифицированных компонентов, независимых стружек деталей и многого другого Он ...

Показать другие изделия
Beijing Torch SMT Co., Ltd.
оптический прибор для контроля / для печатной платы
оптический прибор для контроля
TV600

... Автоматический оптический детектор TV600 идеально подходит для мониторинга неквалифицированных компонентов, независимых деталей, микросхем и т.д. Оснащен трехосевым сервоприводом, системами управления оборудованием, системой оптической ...

Показать другие изделия
Beijing Torch SMT Co., Ltd.
автоматический прибор для контроля / оптический / для электроники
автоматический прибор для контроля
TV430

... Автоматический оптический детектор TV430 состоит из пяти частей: трехосевая сервоприводная система, системы управления оборудованием, системы оптической автоматической идентификации, высокоточная система оптического контроля, состоящая ...

Показать другие изделия
Beijing Torch SMT Co., Ltd.
автоматизированный прибор для контроля / для фармацевтической промышленности / для измерений / с ленточным конвейером
автоматизированный прибор для контроля
KA

... Устройство для проверки таблеток Бохле используется для механической проверки толщины таблеток, капсул и таблеток с покрытием из сахара или пленки. Подающий бункер заполнен таблетками для тестирования. Оттуда вибрационная система направляет ...

прибор для контроля для электроники
прибор для контроля для электроники
XCEL AOI

... Модель XCEL AOI - это инспекционный станок, разработанный компанией Aurel Automation, в линию или отдельно. В основном используется для автоматического исследования печатных подложек в машиностроительной промышленности. Устройство обычно ...

прибор для контроля для полупроводниковой пластины / для сортировки
прибор для контроля для полупроводниковой пластины
XCEL for Die Inspection & Sorting

... Применяется для датчиков давления на полупроводниковых приборах. Машина выполняет точный оптический контроль (AOI) кремниевой пластины, затем выбрасывание и сортировку хорошей/плохой матрицы. Машина оснащена 3 камерами с большим увеличением ...

автоматический прибор для контроля / для электроники / для измерений / линейный
автоматический прибор для контроля
XCEL AOI

... Модель XCEL AOI - это инспекционный станок, разработанный компанией Aurel Automation, в линию или отдельно. В основном используется для автоматического исследования печатных подложек в машиностроительной промышленности. Устройство обычно ...

прибор для контроля путем проникновения люминесцентной жидкости / CND
прибор для контроля путем проникновения люминесцентной жидкости
PLURITANK FPI (NDT)

прибор для контроля цифровая томография / для полупроводниковой пластины / высокоскоростной / высокое разрешение
прибор для контроля цифровая томография
Superfast 4G+

... Superfast 4G+ имеет усовершенствования, которые повышают пропускную способность, повторяемость перемещений и исключают появление кромок по сравнению с 4G. Супербыстрые приложения Литография ГПШ Отжиг Осаждение Эх Обработка кромок Обработка ...

автоматизированный прибор для контроля / для полупроводниковой пластины / 3D
автоматизированный прибор для контроля
Superfast 4G

... 3D обработка и контроль В то время как полупроводниковая промышленность продолжает стремиться к повышению производительности и производительности, сокращая размеры устройств в соответствии с законом Мура, производители сталкиваются с ...