Прибор для контроля с рентгеновским излучением XT H series

цифровая томографияCT3D

Обзор
Серия XT H — это спиральные рентгеновские КТ‑сканеры с микрофокусом, предназначенные для высокоразрешающей инспекции компонентов от миниатюрных пластиковых разъёмов до алюминиевых отливок. Системы применимы в НИОКР, анализе отказов и контроле качества на производстве; доступны конфигурации для инспекции и метрологии.

Адаптируемые решения
Системы сочетают лабораторную гибкость с производственными функциями для сокращения цикла и повышения времени безотказной работы: настраиваемые источники/таргеты, режим X.Tend Helical CT, моторизованная регулировка расстояния источник‑детектор и др.

Ключевые преимущества продукта

• Гибкость по требованию: выбор рентгеновского источника, таргетов, стратегий сканирования CT и опций (например, моторная регулировка FDD) для широкого спектра задач контроля.
• X.Tend Helical CT: сканирование высоких объектов за одну непрерывную съёмку для исключения артефактов конусного пучка и стыков, возможность увеличения для повышения разрешения.
• 225 kV Rotating.Target 2.0: обеспечивает непрерывную работу до 450 W (в зависимости от конфигурации) — либо повышенную разрешающую способность при той же мощности, либо более быструю съёмку при заданном разрешении.

Основные функции

• X.Tend Helical CT для безартефактных высокоразрешающих сканов: спиральная непрерывная аквизиция для длинных деталей; разрешение повышается при приближении образца к источнику.
• Offset.CT для более широких и высокоразрешающих сканов: позволяет сканировать компоненты шире детектора и размещать образец ближе к источнику для повышения эффективного разрешения.
• Трассируемая точность измерений: метрологическая опция (MCT225) для точных измерений с верификацией MPE в соответствии с VDI/VDE 2630 и поддержкой Local.Calibration.
• Качество изображения: плоскопанельные детекторы большой площади с мелкими пикселями и быстрыми экспозициями в сочетании с микрофокусными рентгеновскими источниками обеспечивают высококачественные наборы данных.
• Dual.Material CT для производства: метод реконструкции для автоматической проверки деталей из двух материалов с уменьшением артефактов от материалов высокой плотности.
• Auto.Filament Control: интеллектуальное управление нитью для продления срока её службы и повышения доступности системы.
• Half.Turn CT: оптимизированные алгоритмы реконструкции формируют данные без артефактов примерно из половины обычного объёма проекций, существенно сокращая время съёмки.

Сравнение (резюме со страницы продукта)
Модели: XT H225 | XT H225 ST 2x | MCT225
Размер детали: XT H225 (малый–средний) · XT H225 ST 2x (более широкий диапазон) · MCT225 (малый–средний) · Плотность и точность зависят от модели и конфигурации.

Применения

• НИОКР и анализ отказов
• Контроль качества производства и серийная инспекция на участке
• Инспекция деталей от малых до крупных, включая пластиковые детали, литьё и многоматериальные компоненты

Характеристики / технические спецификации

• Опции рентгеновского источника, включая 225 kV Rotating.Target 2.0
• Возможность непрерывной работы до 450 W (зависит от конфигурации)
• Режим X.Tend Helical CT для длинных объектов и непрерывного сканирования без артефактов
• Режим Half.Turn CT для сокращения времени съёмки при получении данных без артефактов
• Auto.Filament Control для продления ресурса нити и повышения времени безотказной работы
• Возможность Offset.CT для сканирования компонентов шире детектора и повышения разрешения за счёт приближения к источнику
• Реконструкция Dual.Material CT для улучшения изображений при двухматериальных/высокоплотных образцах
• Метрологическая опция (MCT225) с верификацией MPE по VDI/VDE 2630 и поддержкой Local.Calibration
• Плоскопанельные детекторы большой площади с мелкими пикселями и быстрыми экспозициями
• Микрофокусные рентгеновские источники с малым фокусом для высокоразрешающих наборов данных