Прибор для контроля с рентгеновским излучением XT V 130

для полупроводникадля печатной платыдля электронной промышленности

Линейка Nikon XT V включает в себя рентгеновские и компьютерные системы мирового класса для неразрушающего контроля электронных компонентов (печатных плат, BGA, микросхем и многого другого). Благодаря распознаванию субмикронных особенностей, линейка систем XT V отвечает современным потребностям в высокопроизводительном неразрушающем контроле сложных электронных компонентов. Источник рентгеновского излучения Nikon Xi Nanotech в паре с ведущими в отрасли плоскопанельными детекторами обеспечивает лучшее в своем классе качество изображения с плавным переходом между 2D и 3D контролем. Превосходный источник рентгеновского излучения Лидирующий на рынке рентгеновский микрофокусный источник Xi Nanotech компании Nikon уникален благодаря эксклюзивной конструкции встроенного генератора и не имеющей аналогов максимальной энергии 160 кВ и истинной целевой мощности 20 Вт. Пакет анализа печатных плат Пакет PCB Analysis Suite позволяет проводить расширенные измерения и анализ BGA, соединительных проводов, PTH и сложных упаковок, таких как PoP, на многослойных платах, с автоматической проверкой на соответствие/несоответствие и составлением отчетов. Концентрическая съемка под косым углом Экстремальное поле зрения под косым углом до 90°, с поворотом образца на 360°, сохраняет область интереса благодаря интеллектуальному программному и аппаратному обеспечению. Системы интуитивно понятны в использовании и используют ведущее в отрасли программное обеспечение для обеспечения максимальной производительности всех операторов с минимальной потребностью в обучении. Благодаря распознаванию субмикронных особенностей, инспекционные системы XT V идеально подходят для широкого спектра применений в различных отраслях промышленности, включая инспекцию сборок печатных плат, BGA, микросхем, медицинских, автомобильных и аэрокосмических компонентов, потребительских товаров и многого другого.