Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля Galaxy Fi 15Cμ
с камеройдля измеренийдля выявления неисправностей

Оптическая система контроля - Galaxy Fi 15Cμ - CIMS - с камерой / для измерений / для выявления неисправностей
Оптическая система контроля - Galaxy Fi 15Cμ - CIMS - с камерой / для измерений / для выявления неисправностей
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая
Тип
для контроля качества, для выявления неисправностей, для измерений, цвета
Применение
для электронной промышленности
Другие характеристики
высокое разрешение

Описание

Описание
Galaxy Fi 15Cμ — панельная система финальной инспекции, разработанная для финальной проверки стандартных IC подложек, HDI и MLB плат. Оснащена высокоразрешающей цветной камерой и оптикой, оптимизированной для разрешения до 15 µm линия/зазор, обеспечивая высокий контраст на паяльной маске, лужёной меди, позолоте/OTC и голом ламинате.

Ключевые преимущества
  • Линейные двигатели для плавного и бесшумного перемещения
  • Прочная механическая конструкция с автоматизированным вакуумным столом
  • Высокопроизводительная система захвата и обработки изображений
  • Архитектура следующего поколения для обработки больших объёмов данных
  • Быстрая и интуитивная настройка задач для сокращения времени переналадки
  • Совместимость с автоматизацией AMHS спереди/сзади или интеграция с роботами

Опции
  • +2DM™ метрология – измерение размеров панели
  • +2CD™ метрология – 2D измерение элементов схем
  • +3DH™ метрология – 3D измерения высоты элементов схем
  • +3DP™ метрология – 3D профилирование элементов схем
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальное картирование дефектов
  • X-WAVE™ – многоволновое освещение

Технические характеристики
  • Применение: финальная инспекция панелей для стандартных IC подложек, HDI и MLB плат
  • Минимально разрешаемая линия/зазор: 15 µm
  • Съёмка: цветная камера с высокоразрешающим захватом изображения
  • Оптическая производительность: оптимизирована для максимального контраста на паяльной маске, лужёной меди, позолоте/OTC и голом ламинате
  • Движок обнаружения: Spark™ 3.0 cross-platform detection engine
  • Система движения: линейные двигатели для плавного и бесшумного перемещения
  • Механика: прочная механическая конструкция с автоматизированным вакуумным столом
  • Обработка: высокопроизводительная прошивка обработки изображений и компьютер следующего поколения для больших данных
  • Удобство: быстрая и интуитивная настройка новых задач
  • Автоматизация: совместимость с AMHS спереди/сзади или роботами
  • Опциональные функции метрологии и инспекции: 2DM™, 2CD™, 3DH™, 3DP™, CDB™/CDBIC™, X-WAVE™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.