Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля Galaxy 7Cχ
с помощью видеосистемы технического зренияс камеройавтоматизированная

Оптическая система контроля - Galaxy 7Cχ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматизированная
Оптическая система контроля - Galaxy 7Cχ - CIMS - с помощью видеосистемы технического зрения / с камерой / автоматизированная
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая, с помощью видеосистемы технического зрения
Режим функционирования
автоматизированная
Тип
для контроля качества, для выявления неисправностей, для измерений, видео
Применение
для производства, для электронной промышленности, для печатной платы
Конфигурация
линейная
Другие характеристики
высокое разрешение, с управлением от компьютера, бесконтактная

Описание

Обзор
Galaxy 7Cχ — система автоматического оптического контроля (AOI) для IC-подложек, разработанная для серийного производства. Обеспечивает минимальную детектируемую линию/интервал до 7 мкм, использует цветную камеру и продвинутую оптику для получения изображений высокого разрешения на производственной скорости сканирования.

Ключевые преимущества
  • Оптическая технология Prisma™ Gen II для гибкого освещения и высокого контраста
  • Детекционный движок Spark™ 3.0 кроссплатформенный с настраиваемыми алгоритмами
  • Цветное снятие изображений, оптимизированное для высокоразрешающего захвата на высокой скорости
  • Линейные моторы для плавного и тихого перемещения
  • Компактная механическая платформа, пригодная для интеграции на производстве
  • Аппаратное обеспечение 6-го поколения с улучшенным блоком подсветки
  • Быстрая и интуитивная настройка для сокращения времени переналадки

Опции
  • Fi™ – опция финальной инспекции для готовых плат
  • +2DM™ метрология – измерение размеров панели
  • +2CD™ метрология – 2D-измерение элементов цепи
  • +3DH™ метрология – 3D-измерение высоты элементов цепи
  • +3DP™ метрология – 3D-профилирование элементов цепи
  • LDI™ – опция инспекции лазерного сверления
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальная картография дефектов
  • VVS™ – система виртуальной верификации
  • X-WAVE™ – мульти-волновое освещение

Технические характеристики
  • Минимальная детектируемая линия/интервал: до 7 мкм
  • Оптическая технология: Prisma™ Gen II для гибкого освещения и максимального контраста
  • Снятие изображений: цветная камера с высоким разрешением при высокой скорости сканирования
  • Детекционный движок: Spark™ 3.0 кроссплатформенный
  • Механическое движение: линейные моторы для плавного и тихого перемещения
  • Платформа: компактная механическая платформа для интеграции в производство
  • Поколение аппаратуры: 6-е поколение
  • Подсветка: улучшенный блок подсветки (доступна опция X-WAVE™)
  • Программное обеспечение: настраиваемые алгоритмы детекции для оптимизации обнаружения и минимизации ложных срабатываний
  • Совместимость с автоматизацией: совместимо с фронтальным AMHS или роботом
  • Доступные опции метрологии и инспекции: Fi™, +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.