- Метрология - Лабораторное дело >
- Проверка и Наблюдение >
- Система контроля для электронной промышленности
Системы контроля для электронной промышленности
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Для предприятий, производящих полупроводниковые пластины в среднем потоке, а также упаковочных и испытательных предприятий, входящих в цепочку полупроводниковой промышленности, используется многоканальная система параллельного обнаружения в светлом и ...
... Введение
TR7700Q TB SII — это двухсторонняя система автоматической оптической инспекции (AOI), обеспечивающая 3D верхний обзор и 2D нижний обзор для детекции дефектов THT, DiP и SMD с высокой покрываемостью. Оснащена AI-алгоритмами TRI и метрологическими ...
TRI Test Research Europe GmbH
оптическая система контроля8 series
... Высокопроизводительные системы контроля узорчатых пластин широкого диапазона Системы контроля образцовых пластин серии 8 обнаруживают широкий спектр дефектов с очень высокой производительностью для быстрого выявления и решения проблем производственного ...
KLA Corporation
... Обзор
Системы серии VOXLS 20 компании Nikon обеспечивают передовые возможности CT‑инспекции в компактном исполнении с энергиями сканирования до 225 кВ. Серия сконструирована для точности и надёжности: метрологический манипулятор на гранитной ...
Nikon Metrology
... Описание
- Автоматическая оптическая инспекция (AOI) для подложек ИС с минимальным разрешением линия/пустота до 4 µm.
- Galaxy 4Cχ — система AOI последнего поколения от CIMS, оснащённая цветной камерой и оптикой Prisma™ Gen II для
CIMS
... Готовое решение для линейного контроля сложных электромеханических узлов. Решение INSPECT.assembly - это полностью интегрированная инспекционная станция, использующая систему визуализации Radiant Vision Systems ProMetric® серии Y, освещение яркого поля ...
... - Разработано для полупроводниковой промышленности - Неразрушающая технология для получения трехмерной информации о неровностях пайки в течение нескольких минут - Повторяющиеся результаты благодаря надежной и точной технологии, разработанной для поддержки ...
Comet Yxlon GmbH
... Фильтр со штифтовым соплом для датчика Opto solino RTI
100-SO-10-MAN-001 / AN_SO_PN_26-05
Задача заказчика: Фильтры с игольчатыми соплами — это прецизионные микроперфорированные детали для фильтрации, управления ...
... Обзор
Устройство для подробного анализа NG-изображений, хранения данных анализа и связи с хост‑ПК на основе информации, предоставляемой системой инспекции ваферов.
Применение
Управление дефектами в процессе производства полупроводниковых ...
роботизированная система контроляRoboXcan
... Система пространственного перемещения X-Y-Z для рентгенографии больших образцов или структур. В этой системе, поскольку ее движение управляется роботизированной рукой, которая параллельно позиционирует источник и детектор, можно рентгенографировать большие ...
Широко применяется для BGA, CSP, флип-чипов, светодиодов, предохранителей, диодов, печатных плат, полупроводников, аккумуляторной промышленности, мелкого литья металла, электронных соединительных модулей, кабелей, фотоэлектрической промышленности и т. ...
... ECHOGRAPH 1170 Basic - это модульный ультразвуковой электронный блок, который размещается в 10″ модульной стойке 4HU. В модульную стойку можно установить главный модуль и до трех ультразвуковых модулей. Каждый ультразвуковой модуль содержит четыре мультиплексированных, ...
цифровая система контроляApogee 90
... - Изображения высочайшей четкости для обнаружения дефектов, анализа отказов и неразрушающего контроля в производственных условиях - даже в микромасштабе. - Визуализация самых сложных сборок печатных плат с полной уверенностью в результатах - Оптимальная ...
... Система iS6059 быстро проверяет установку электронных компонентов на место, выполняет точные измерения высоты сборки и с высокой надежностью проверяет паяные соединения. Девять ракурсов в первоклассном разрешении и на 26 % больше пикселей, переменная ...
Viscom AG
бесконтактная система контроляMRD-3A00 series
... Оборудование для контроля краев серии MRD-3A00 для обнаружения дефектов внешнего вида ЖК-дисплеев, жестких AMOLED, CG и других изделий. Контроль заусенцев AOI Описание продукции: Лидирует в отрасли, достигая технического уровня аналогов из Южной Кореи ...
система контроля с камеройInspex OUT
... Inspex OUT Для высокопроизводительного и точного контроля сборки, аспектов или отделки поверхности ваших изделий. Универсальное решение для контроля с помощью промышленного зрения INSPEX OUT основан на сочетании одной или нескольких цифровых камер, подходящих ...
система контроля с рентгеновским излучениемX-1200
... рентгеновская инспекционная система X-1200 - SMT / Полутон / Солнечный / Твердость разъем / Светодиодная печатная плата (Специально для СИД 1200 мм) - Изображение в высоком разрешении: Наклонная/мост/нефть/холодный припой/скрепление проволоки - закрытая ...
Shenzhen Zhuomao Technology Co., Ltd.
... Система контроля пластин AM018T — это быстрое, точное и комплексное решение, позволяющее выявлять и сортировать пластины по размеру, толщине, наличию пятен, сколов, удельному сопротивлению, микротрещинам, типу P/N, отверстиям и т. д. Пионер в области ...
автоматическая система контроляKVI-10
... - Предназначен для проверки листов зеленой керамики - Проверка мокрых и сухих отпечатков, сквозных отверстий - Высокое разрешение инспекции - Усовершенствованные алгоритмы освещения и технического зрения - Обнаруживает - замыкания, - открытые, - падения ...
система контроля с рентгеновским излучениемµB3200
... это настольная рентгеновская инспекционная система начального уровня. Компактная система рентгеновского контроля помещается прямо на столе, что позволяет использовать ее в любом месте на небольших предприятиях или в офисах. Кроме того, вы можете регулировать ...
... Электронное оборудование для тестирования полупроводников X-8000 может быть использовано для обнаружения полупроводниковых микросхем интегральных схем, таких как BGA, IGBT, flip-chip и сварки компонентов PCBA, высокоточного тестирования в светодиодной, ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки