Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля Galaxy 4Cχ
с камеройавтоматическаядля измерений

Оптическая система контроля - Galaxy 4Cχ - CIMS - с камерой / автоматическая / для измерений
Оптическая система контроля - Galaxy 4Cχ - CIMS - с камерой / автоматическая / для измерений
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая
Режим функционирования
автоматическая
Тип
для выявления неисправностей, для измерений
Применение
для производства, для электронной промышленности
Применение изделия
для полупроводниковой пластины
Конфигурация
линейная
Другие характеристики
высокое разрешение, бесконтактная

Описание

Описание
  • Автоматическая оптическая инспекция (AOI) для подложек ИС с минимальным разрешением линия/пустота до 4 µm.
  • Galaxy 4Cχ — система AOI последнего поколения от CIMS, оснащённая цветной камерой и оптикой Prisma™ Gen II для получения изображений с высоким контрастом на производственной скорости сканирования.
  • Разработана для поддержки массового производства подложек ИС следующего поколения путем сочетания высокоразрешающей съёмки и настраиваемых алгоритмов детекции на базе Spark™ 3.0.
  • Модульные опции и пакеты метрологии обеспечивают inline-измерения и инспекционные процессы для панелей и элементов цепей.


Ключевые особенности
  • Линейные двигатели для плавного и бесшумного перемещения
  • Компактная механическая платформа для интеграции в цеху
  • Аппаратная архитектура 6-го поколения
  • Улучшённый блок подсветки с опцией X-WAVE™ мультиволнового освещения
  • Быстрая и интуитивная настройка новых задач
  • Совместимость с фронтальной автоматикой AMHS или роботизированной подачей


Опции
  • Fi™ — опция финальной инспекции для готовых плат
  • +2DM™ метрология — измерение размеров панели
  • +2CD™ метрология — 2D-измерение элементов схемы
  • +3DH™ метрология — 3D-измерение высоты элементов
  • +3DP™ метрология — 3D-профилирование элементов схемы
  • LDI™ — опция инспекции лазерного сверления
  • CDB™/CDBIC™ — классификация дефектов и виртуальная карта дефектов
  • VVS™ — система виртуальной верификации
  • X-WAVE™ — мультиволновое освещение


Технические характеристики
  • Применение: Автоматическая оптическая инспекция (AOI) для подложек ИС
  • Минимально различимая линия/пустота: 4 µm
  • Камера: Цветная камера
  • Оптическая технология: Prisma™ Gen II
  • Движок детекции: Spark™ 3.0 (cross-platform)
  • Система движения: Линейные двигатели для плавного и бесшумного перемещения
  • Механика: Компактная платформа для плотных конфигураций цеха
  • Поколение аппаратуры: 6-е поколение
  • Подсветка: Усиленный блок подсветки (X-WAVE™ опционально)
  • Совместимость с автоматизацией: Front AMHS или робот
  • Опции метрологии: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™
  • Другие опции: Fi™ финальная инспекция, LDI™ инспекция лазерного сверления, CDB™/CDBIC™ классификация дефектов, VVS™ виртуальная верификация

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.