Оптическая система контроля Phoenix PT+
с камеройавтоматизированнаядля стеклянной поверхности

Оптическая система контроля - Phoenix PT+ - CIMS - с камерой / автоматизированная / для стеклянной поверхности
Оптическая система контроля - Phoenix PT+ - CIMS - с камерой / автоматизированная / для стеклянной поверхности
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
с камерой, оптическая
Режим функционирования
автоматизированная
Тип
для стеклянной поверхности
Применение
для электронной промышленности
Применение изделия
для пленки
Другие характеристики
высокое разрешение, с управлением от компьютера, бесконтактная

Описание

Описание
Phoenix PT+ — система CIMS AOI, предназначенная для инспекции высокоразрешающих фототулов, таких как художественные изображения на плёнке и стеклянные маски. Сканирование возможно до ширины линия/пространство 12,5 мкм. Поскольку маски используются с трансмиссивным освещением, Phoenix PT+ применяет тот же оптический путь для инспекции, что обеспечивает надёжное обнаружение дефектов, которые в противном случае могли бы быть перенесены на платы, изготовленные с дефектными масками. Система сочетает в себе высокое качество изображения и настраиваемые алгоритмы обнаружения. Оснащённая современным оборудованием для захвата изображений и продвинутым программным обеспечением, линейка Phoenix обеспечивает высокий уровень обнаружения при низком уровне ложных срабатываний. Phoenix PT+ работает на двигателе обнаружения Spark™ — кроссплатформенном решении.

Ключевые особенности
  • Прозрачный или матовый стеклянный стол
  • Совместимость с широким спектром рам
  • Подходит для стеклянных масок и фотошаблонов на плёнке
  • Прочная механическая конструкция
  • Высокая эргономика конструкции
  • Высокопроизводимая прошивка обработки изображений
  • Мощные процессоры для обработки больших объёмов данных
  • Быстрая и интуитивная настройка для новых задач

Опции
  • Несколько размеров рам для стеклянных масок
  • Универсальный адаптер рам
  • Интегрированный трекер высоты
  • +2CD™ метрология – 2D-измерение элементов схем
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальное картирование дефектов

Характеристики / технические данные
  • Минимальная обнаруживаемая ширина линия/пространство: 12,5 мкм
  • Цель инспекции: высокоразрешающие фототулы, включая работы на плёнке и стеклянные маски
  • Освещение / оптический путь: инспекция с трансмиссивным освещением (тот же путь света, что используется при применении масок)
  • Стол: прозрачный или матовый стеклянный стол
  • Совместимость рам: совместим с широким спектром рам; несколько размеров рам для стеклянных масок доступны как опция
  • Механика: прочная механическая конструкция с высокой эргономикой
  • Захват изображения: современное оборудование для захвата изображений
  • Обработка: высокопроизводящая прошивка обработки изображений и мощные процессоры для работы с большими объёмами данных
  • Программное обеспечение / движок обнаружения: работает на кроссплатформенном движке обнаружения Spark™ с настраиваемыми алгоритмами обнаружения
  • Настройка: быстрая и интуитивная настройка для новых задач
  • Опциональная метрология и классификация: +2CD™ 2D-метрология, CDB™/CDBIC™ классификация дефектов и виртуальное картирование дефектов
  • Опциональное оборудование: универсальный адаптер рам, интегрированный трекер высоты

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.