Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Проверка и Наблюдение
  3. Оптическая система контроля
  4. CIMS

Оптическая система контроля Galaxy PVH
автоматизированнаяуровня наполнениядля выявления неисправностей

Оптическая система контроля - Galaxy PVH - CIMS - автоматизированная / уровня наполнения / для выявления неисправностей
Оптическая система контроля - Galaxy PVH - CIMS - автоматизированная / уровня наполнения / для выявления неисправностей
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Технология
оптическая
Режим функционирования
автоматизированная
Тип
для выявления неисправностей, уровня наполнения
Применение
для электронной промышленности, для печатной платы
Другие характеристики
с управлением от компьютера, бесконтактная

Описание

Описание
Galaxy PVH — AOI-система для инспекции запломбированных переходных отверстий (PVH) с минимальным инспектируемым диаметром отверстия 75 µm. Система инспектирует на одной панели как залитые смолой сквозные отверстия, так и заполненные лазерные vias, поддерживая массовое производство MLB и HDI плат. Опция PVH расширяет возможности AOI для механически и лазерно просверленных отверстий и надежно обнаруживает дефекты внутри заполненных сверлений.

Основные характеристики
  • Отличное обнаружение дефектов в смоле внутри сверлений
  • Линейные моторы для плавного и бесшумного перемещения
  • Построено на компактной платформе Galaxy
  • Высокопроизводительная прошивка обработки изображений
  • Мощные процессоры для обработки больших объемов данных
  • Быстрая и интуитивная настройка новых задач
  • Мощные статистические выходы для управления процессом


Опции
  • Статистический пакет для расчета смещения сверления и нарушений диаметра
  • CDB™/CDBIC™ – классификация дефектов и виртуальное картирование дефектов
  • VVS™ – система виртуальной верификации


Технические характеристики
  • Тип продукта: AOI-система для запломбированных переходных отверстий (PVH)
  • Минимальный инспектируемый диаметр отверстия: 75 µm
  • Инспектирует как залитые смолой сквозные отверстия, так и заполненные лазерные vias на одной панели
  • Целевые рынки/применения: массовое производство MLB и HDI плат
  • Оптическая технология: Microlight™ для оптимизированного освещения
  • Детекция: настраиваемые алгоритмы детекции для строгого обнаружения дефектов
  • Механика: линейные моторы для плавного и бесшумного перемещения
  • Платформа: основано на компактной платформе Galaxy
  • Обработка: высокопроизводительная прошивка обработки изображений и мощные процессоры для работы с большими массивами данных
  • Настройка: быстрое и интуитивное создание задач
  • Данные и контроль: мощные статистические пакеты для управления процессом в реальном времени и калибровки инструментов лазерного сверления
  • Доступные опции: статистический пакет для смещения/нарушений диаметра, классификация CDB™/CDBIC™ и виртуальное картирование дефектов, виртуальная верификация VVS™

Другие изделия CIMS

PCB Inspection and Metrology

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.