- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп >
- Carl Zeiss
Микроскопы Carl Zeiss
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... , проходящих через фокальную плоскость, объединяются для создания одного изображения в фокусе. В классических системах микроскопии этот процесс может занимать много времени и быть сложным. ZEISS Visioner 1 позволяет ...
ZEISS Métrologie industrielle
Увеличение : 2 020 unit
Пространственное разрешение: 0,56 µm
Вес: 30, 22 kg
... ZEISS Smartzoom 5 - это интеллектуальный цифровой микроскоп, идеально подходящий для контроля и обеспечения качества практически в любой области промышленности. Быстрый и простой в настройке, полностью автоматизированный ...
ZEISS Métrologie industrielle
... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. ...
ZEISS Métrologie industrielle
... Семейство ZEISS Sigma сочетает в себе технологию полевого эмиссионного сканирующего электронного микроскопа (FE-SEM) с превосходным пользовательским интерфейсом. Структурируйте свои процедуры получения изображений и анализа ...
ZEISS Métrologie industrielle
... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для начинающих пользователей. ...
ZEISS Métrologie industrielle
Пространственное разрешение: 1,2, 0,7 nm
... GeminiSEM - это легкая визуализация с субнанометровым разрешением. Эти FE-SEM (полевые эмиссионные сканирующие электронные микроскопы) сочетают в себе превосходство в визуализации и аналитике. Инновации в области электронной ...
ZEISS Métrologie industrielle
Вес: 20, 14, 32 kg
Длина: 458,5, 240 mm
Ширина: 429, 293,5 mm
... Вертикальный световой микроскоп ZEISS Axioscope был разработан специально для удовлетворения наиболее распространенных требований к оптическому изображению в лабораториях по исследованию материалов. Это правильный выбор, ...
ZEISS Métrologie industrielle
Вес: 27, 36, 30 kg
Длина: 805 mm
Ширина: 295 mm
... Исследуйте, разрабатывайте и анализируйте материалы, особенно металлографические образцы, в кратчайшие сроки с помощью ZEISS Axio Observer. Воспользуйтесь преимуществами его перевернутой конструкции. Axio Observer сочетает в себе качество ...
ZEISS Métrologie industrielle
Увеличение : 1 unit - 150 unit
... 300 мм и максимальной высотой 254 мм. При работе с тяжелыми образцами или в сочетании с конфокальным лазерным сканирующим микроскопом ZEISS LSM для материалов - прочная конструкция колонны обеспечивает надежную устойчивость ...
ZEISS Métrologie industrielle
Увеличение : 1 unit - 100 unit
Вес: 40, 18 kg
Длина: 721 mm
... материалов Если вы проводите передовые исследования материалов, внедрите простоту использования в рабочий процесс световой микроскопии. Получите точные и воспроизводимые результаты с помощью ZEISS Axio Imager 2 для материалов. ...
ZEISS Métrologie industrielle
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось