＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Объедините визуальный и качественный химический контроль за один рабочий шаг и сэкономьте 90% времени на определение микроструктурного состава по сравнению с контролем с помощью обычных РЭМ/ЭДС. Встроенная лазерная спектроскопия с индукцией ...
Leica Microsystems GmbH
... Сосредоточившись на задачах в лаборатории материалов или на исследованиях Новый микроскоп Leica DM1750 M - это материальный микроскоп, предназначенный для быстрого и точного анализа даже в тяжелых условиях окружающей среды. Работая ...
Leica Microsystems GmbH
... Микроскопы Upright для материаловедения и анализа промышленного качества обеспечивают стабильные условия визуализации и надежные результаты. Настройки микроскопа и параметры визуализации могут быть быстро воспроизведены благодаря уникальной ...
Leica Microsystems GmbH
... Исследуйте, разрабатывайте и анализируйте материалы, особенно металлографические образцы, в кратчайшие сроки с помощью ZEISS Axio Observer. Воспользуйтесь преимуществами его перевернутой конструкции. Axio Observer сочетает в себе качество ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для начинающих пользователей. Благодаря ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Вес: 32, 14, 20 kg
Длина: 240, 458,5 mm
Ширина: 293,5, 429 mm
... Вертикальный световой микроскоп ZEISS Axioscope был разработан специально для удовлетворения наиболее распространенных требований к оптическому изображению в лабораториях по исследованию материалов. Это правильный выбор, если ваши рутинные ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm
... Desktop SEM для надежного и легкого анализа SEM, расширяющего ваши исследовательские возможности. Настольный РЭМ Phenom Pro Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom Pro G6 шестого поколения заполняет пробел между световой микроскопией ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm
... Настольный сканирующий электронный микроскоп для производства и исследования батарей. Анализ передовых материалов для батарей Настольный СЭМ Phenom предназначен для анализа материалов батарей При производстве и исследовании батарей ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 3, 8, 7 nm
Вес: 10 kg
... Гибкий, простой в использовании прибор SEM EDS, обеспечивающий мгновенный количественный элементный анализ. СЭМ-изображение и элементный анализ EDS Несмотря на то, что сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) достигла огромных успехов, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm
... Уникальный ТЭМ/система Hitachi с коррекцией аберраций 200 кВ: идеальная гармония разрешения изображения и аналитических характеристик 0.пространственное разрешение 078 нм в СТЭМ достигается в сочетании с высокой способностью наклона ...
Увеличение : 10 unit
Вес: 7 488 g
Длина: 440 mm
... Металлургический микроскоп отраженного света для тестирования материалов и проверки поверхности, а также обеспечения качества в промышленности - KERN OKM-1 - это превосходный металлургический микроскоп отраженного света, например, для ...
Увеличение : 40 unit - 800 unit
Увеличение : 40 unit - 800 unit
Увеличение : 45 unit
Увеличение : 10 unit - 220 unit
... Благодаря подключению через USB 3.0 камера AM73115MZT способна получать плавные и качественные изображения. Оптика серии Edge и специальная функция Flexible LED Control (FLC) делают AM73115MZT лучшим выбором для самых требовательных приложений. Она ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 140 unit
... Благодаря подключению через порт USB 3.0 камера AM73115MZTL способна получать плавные и качественные изображения. Оптика серии Edge и специальная функция Flexible LED Control (FLC) делают AM73115MZTL лучшим выбором для самых требовательных ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 220 unit
... Dino-Lite AM73915MZT входит в линейку высокоскоростных проекторов с интерфейсом USB 3.0. Она обеспечивает превосходное качество несжатого изображения и цветопередачу в прочном, компактном и привлекательном металлическом корпусе. USB ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8 nm - 1 200 nm
Вес: 950 kg
... CIQTEK SEM5000Pro - это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM, FEG SEM) с высоким разрешением и широкими возможностями. Передовая конструкция колонны, технология высоковольтного туннелирования (SuperTunnel), конструкция ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm
... SEM2100 - это удобный и доступный сканирующий электронный микроскоп (SEM) с вольфрамовой нитью, предназначенный для начинающих пользователей. Он отличается упрощенным процессом работы, а в дизайне пользовательского интерфейса соблюдены ...
CIQTEK Co., Ltd.
Пространственное разрешение: 0,5 µm
... nano3DX Rigaku nano3DX - это настоящий рентгеновский микроскоп (XRM) с возможностью получения 3D-вычислительных томографических изображений (КТ) относительно больших образцов с высоким разрешением. Это достигается за счет использования ...
Вес: 8, 20 kg
Длина: 410 mm
Ширина: 219 mm
... Ваш обычный микроскоп отраженного света для анализа материалов. Надежный анализ микроструктуры и дефектов материалов - в комфортных условиях Выберите оптимальную конфигурацию для ваших задач из трех версий стойки Axio Lab.A1: с освещением ...
Длина: 600 mm
Ширина: 560 mm
Высота: 640 mm
... LLY-27 Индикатор тонкости волокна тестер Применение Используется для тестирования диаметра волокна и содержания шерсти животных, лосьона и конопли; определяется с помощью компьютера, микроскопа. Standards:GB/T10685、GB/T16988、FZ/T30003、SN/T0756 Технический ...
... Versamet 4 - это новый инвертированный металлургический микроскоп, разработанный для поддержки различных методов наблюдения, включая яркопольное, яркопольное/темнопольное, поляризованный свет и ДИК. Этот универсальный и настраиваемый ...
... Измеряет длину, ширину и высоту частиц, где не требуются функции моторизованного микроскопа - за исключением сканирующего столика и моторизации привода фокусировки. Оптика высокого разрешения обеспечивает измерение частиц размером до ...
Пространственное разрешение: 100 nm - 6 000 000 nm
... Автоматические измерения по Бринеллу дают уверенность в результатах испытаний. Foundrax была первой компанией в мире, предложившей аутентичную автоматическую оптическую измерительную систему Brinell и имеющей больше опыта в этой области, ...
Foundrax Engineering Products Ltd
... TIME-40MW компьютеризированный металлографический микроскоп представляет собой тринокулярный вертикальный металлографический микроскоп. Этот станок обладает превосходными характеристиками визуализации и удобством эксплуатации, обеспечивая ...
BEIJING TIME VISION AI INSTRUMENT LTD.
Магнитооптическая микроскопическая тестовая система визуализации Kerr может четко и интуитивно понять пространственное распределение и временную эволюцию состояния намагниченности в магнитных материалах и устройствах и подходит для тестирования ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось