Электронный сканирующий микроскоп SEM3200

для лабораторийс планарным объективомна месте

CIQTEK SEM3200 - высокопроизводительный растровый электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обладает отличным качеством изображения, совместимостью с режимом низкого вакуума, высоким разрешением изображений в различных полях зрения. Глубина резкости большая, а изображение насыщенное стерео. Расширенная масштабируемость и функциональные возможности SEM SE\BSE\EDS\EDX\EBSD и др Оптическая навигация Быстрое определение местоположения целевых образцов и областей интереса *Сшивание крупномасштабных изображений Полностью автоматический подбор и сшивка карт для отображения большого поля зрения Смешивание изображений (SE+BSE) Наблюдение состава и информации о поверхности образца на одном изображении *Структура с двумя анодами Улучшенное разрешение и качество изображения при низких напряжениях *Режим низкого вакуума Получение деталей поверхности образца и морфологии в низком вакууме, программное переключение состояния вакуума одним щелчком мыши