Электронный сканирующий микроскоп SEM3200для лабораторийдля контроля качествамедицинский
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- электронный сканирующий
- Применение
- для лабораторий, для контроля качества, для анализа материалов, медицинский, для полупроводника, для материалов
- Эргономика
- прямой
- Качество объективов
- с планарным объективом
- Метод наблюдения
- на месте
- Конфигурация
- напольный
- Источник света
- с коаксиальной подсветкой
- Источник электронов
- вольфрамовая нить
- Источник ионов
- с галлием
- Тип объектива
- с корректором аберраций
- Тип детектора
- ДОРЭ, с энергодисперсионным детектором рентгеновского излучения
- Опции и аксессуары
- автоматизированный, USB
- Другие характеристики
- автоматический, высокая скорость
- Увеличение
300 000 unit
- Пространственное разрешение
3 nm, 4 nm, 7 nm
- Вес
480 kg
(1 058,2 lb)- Длина
926 mm
(36,5 in)- Ширина
836 mm
(32,9 in)- Высота
1 700 mm
(66,9 in)
Описание
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости и удобную для пользователя среду для определения характеристик образцов. Более того, широкие возможности масштабирования помогают пользователям исследовать мир микроскопических изображений.
ВИДЕО
Каталоги
Tungsten filament SEM microscope
24 Страницы
Field Emission SEM4000X
12 Страницы
Field Emission SEM4000Pro
12 Страницы
Другие изделия CIQTEK Co., Ltd.
Scanning Electron Microscope
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп со светодиодным освещением
- Микроскоп с цифровой камерой
- Микроскоп для измерений
- Микроскоп для анализов
- Тринокулярный микроскоп
- Микроскоп USB
- Прямой микроскоп
- Микроскоп со светлым фоном
- Микроскоп высокое разрешение
- Автоматический микроскоп
- Промышленный микроскоп
- Бинокулярный микроскоп
- Микроскоп для испытания материалов
- Медицинский микроскоп
- Микроскоп для контроля качества
- Флуоресцентный микроскоп
- Микроскоп для исследований
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.