Электронный сканирующий микроскоп SEM3200
для лабораторийдля контроля качествамедицинский

Электронный сканирующий микроскоп - SEM3200 - CIQTEK Co., Ltd. - для лабораторий / для контроля качества / медицинский
Электронный сканирующий микроскоп - SEM3200 - CIQTEK Co., Ltd. - для лабораторий / для контроля качества / медицинский
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

fo_shop_gate_exact_title

Характеристики

Тип
электронный сканирующий
Применение
для лабораторий, для контроля качества, для анализа материалов, медицинский, для полупроводника, для материалов
Эргономика
прямой
Качество объективов
с планарным объективом
Метод наблюдения
на месте
Конфигурация
напольный
Источник света
с коаксиальной подсветкой
Источник электронов
вольфрамовая нить
Источник ионов
с галлием
Тип объектива
с корректором аберраций
Тип детектора
ДОРЭ, с энергодисперсионным детектором рентгеновского излучения
Опции и аксессуары
автоматизированный, USB
Другие характеристики
автоматический, высокая скорость
Увеличение

300 000 unit

Пространственное разрешение

3 nm, 4 nm, 7 nm

Вес

480 kg
(1 058,2 lb)

Длина

926 mm
(36,5 in)

Ширина

836 mm
(32,9 in)

Высота

1 700 mm
(66,9 in)

Описание

CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости и удобную для пользователя среду для определения характеристик образцов. Более того, широкие возможности масштабирования помогают пользователям исследовать мир микроскопических изображений.

ВИДЕО

Каталоги

Другие изделия CIQTEK Co., Ltd.

Scanning Electron Microscope

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.