Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) SEM5000X
для лабораторийдля контроля качествадля анализа материалов

Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SEM5000X - CIQTEK Co., Ltd. - для лабораторий / для контроля качества / для анализа материалов
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SEM5000X - CIQTEK Co., Ltd. - для лабораторий / для контроля качества / для анализа материалов
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SEM5000X - CIQTEK Co., Ltd. - для лабораторий / для контроля качества / для анализа материалов - изображение - 2
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Применение
для лабораторий, для контроля качества, для анализа материалов
Эргономика
сенсорный планшет
Головка микроскопа
тринокулярный
Метод наблюдения
со светлым фоном, на месте
Конфигурация
напольный
Источник света
со светодиодным освещением
Источник электронов
с автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки), вольфрамовая нить
Источник ионов
с галлием
Тип детектора
обратно-рассеянных электронов, in-lens SE, ДОРЭ
Опции и аксессуары
автоматизированный
Другие характеристики
с цифровой камерой, USB, ультравысокое разрешение
Увеличение

МИН.: 1 unit

МАКС.: 2 500 000 unit

Пространственное разрешение

МИН.: 0,6 nm

МАКС.: 1 nm

Вес

400 kg
(881,8 lb)

Длина

90 cm
(35,4 in)

Ширина

95 cm
(37,4 in)

Высота

158 cm
(62,2 in)

Описание

CIQTEK SEM5000X — это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения (FE-SEM) с революционным разрешением 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Благодаря обновленному процессу проектирования колонн, технологии «SuperTunnel» и конструкции объектива высокого разрешения SEM5000X может добиться дальнейшего улучшения разрешения изображений при низком напряжении. Количество портов камеры для образцов увеличивается до 16, а загрузочный замок для смены образцов поддерживает пластины размером до 8 дюймов (максимальный диаметр 208 мм), что значительно расширяет возможности применения. покрытие. Расширенные режимы сканирования и улучшенные автоматизированные функции обеспечивают более высокую производительность и еще более оптимизированную работу.

ВИДЕО

Каталоги

Другие изделия CIQTEK Co., Ltd.

Scanning Electron Microscope

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.