Технические характеристики микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro
-Электронная оптика
Разрешение: 0,8 нм при 15 кВ, SE/1,2 нм при 1,0 кВ, SE
Напряжение ускорения:0,02 кВ ~ 30 кВ
Увеличение (Polaroid):1 ~ 2,500,000 x
Тип электронной пушки:Электронная пушка с полевой эмиссией Шоттки
-Камера для образцов
Камера:Две камеры (оптическая навигация + монитор камеры)
Диапазон сцены:X: 110 мм, Y: 110 мм, Z: 50 мм/T: -10°~ +70°, R: 360°
-Детекторы и удлинители
Стандартный:Инленсовский детектор электронов/детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Дополнительно:Выдвижной детектор обратно рассеянных электронов (BSED)
Выдвижной сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп (STEM)
Низковакуумный детектор(LVD)
Энергодисперсионная спектроскопия (EDS / EDX)
Дифракционная картина обратного рассеяния электронов (EBSD)
Замок для смены образцов (4 дюйма / 8 дюймов)
Панель управления с трекболом и ручкой
-Программное обеспечение
Язык:английский
Операционная система:Windows
Навигация:Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опционально)
Автоматические функции:Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автостигматор
CIQTEK SEM5000Pro - это растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией Шоттки (FE-SEM), специализирующийся на высоком разрешении даже при низком напряжении возбуждения. Передовая технология электронной оптики "Super-Tunnel" обеспечивает беспереходную траекторию луча в сочетании с электростатической и электромагнитной конструкцией составных линз.
Эти усовершенствования снижают эффект пространственного заряда, минимизируют аберрации линзы, повышают разрешение изображения при низком напряжении и достигают разрешения 1,2 нм при напряжении 1 кВ.
---