Микроскоп вольфрамовая нить SEM 3300

электронный сканирующийдля анализовдля анализа материалов

Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM3300 SEM *Электронная оптика Разрешение: 2,5 нм при 15 кВ, SE 4 нм при 3 кВ, SE 5 нм @ 1 кВ, SE Ускоряющее напряжение: 0,1 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x *Камера для образцов Камера: Оптическая навигация Мониторинг камеры Тип штатива: 5-осевой моторизованный, совместимый с вакуумом Диапазон XY: 125 мм Диапазон Z: 50 мм Диапазон T: - 10° ~ 90° R Диапазон: 360° *Детекторы SEM Стандарт: Внутрилинзовый детектор электронов (Inlens) Детектор Эверхарта-Торнли (ETD) Дополнительно: Выдвижной детектор обратно рассеянных электронов (BSED) Энергодисперсионный спектрометр (EDS / EDX) Дифракционная картина с обратным рассеянием электронов (EBSD) *Опционально Замок для смены образцов Панель управления с трекболом и ручкой *Пользовательский интерфейс Операционная система: Windows Навигация: Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опционально) Автоматические функции: Автоматическая яркость и контрастность, автоматическая фокусировка, автоматический стигматор В сканирующем электронном микроскопе (СЭМ) CIQTEK SEM3300 применены такие технологии, как электронная оптика "Super-Tunnel", инлинзовые детекторы электронов, электростатические и электромагнитные составные объективы. Применение этих технологий в микроскопе с вольфрамовой нитью позволяет превзойти давний предел разрешения таких РЭМ, что позволяет РЭМ с вольфрамовой нитью выполнять задачи низковольтного анализа, ранее достижимые только с помощью полевых эмиссионных РЭМ. *Преодоление предела разрешения РЭМ с вольфрамовой нитью *Внутрилинзовый детектор электронов *Комбинированный электромагнитный и электростатический объектив *Безопасность использования *Отличная расширяемость