video corpo

Микроскоп ПРЭМ HF5000
для испытания материаловдля анализа материаловметрологии

микроскоп ПРЭМ
микроскоп ПРЭМ
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
ПРЭМ
Применение
метрологии, для испытания материалов, для анализа материалов
Метод наблюдения
BF-STEM, DF-STEM, на месте
Конфигурация
напольный
Источник электронов
с холодной полевой эмиссией
Тип объектива
с корректором аберраций
Тип детектора
вторичных электронов
Другие характеристики
высокое разрешение, автоматизированный, для полупроводника, для нанотехнологии, со значительным увеличением
Увеличение

МИН.: 20 unit

МАКС.: 8 000 000 unit

Пространственное разрешение

0,08 nm, 0,1 nm

Описание

Уникальный ТЭМ/система Hitachi с аберрационной коррекцией 200 кВ: идеальная гармония разрешения изображения и аналитических характеристик 0.пространственное разрешение 078 нм в СТЭМ достигается в сочетании с высокой способностью наклона образца и большим телесным углом EDX-детектора(ов), и все это в конфигурации с одним объективом. В HF5000 использованы возможности специализированного СТЭМ Hitachi HD-2700, включая собственный полностью автоматизированный корректор аберраций, симметричный двойной SDD EDX и съемку SE с Cs-коррекцией. В нем также реализованы передовые технологии TEM/STEM, разработанные в серии HF. Интеграция этих накопленных технологий в новую платформу 200 кВ TEM/STEM позволила создать прибор с оптимальным сочетанием субÅ-изображений и анализа, а также гибкостью и уникальными возможностями для проведения самых современных исследований. ※ Со встроенными экранами мониторов и возможностью установки второго монитора. Характеристики - Полностью автоматизированный корректор сферических аберраций Hitachi с формированием зонда - Высокояркая и высокостабильная холодная электронная пушка FE (Cold FEG) - Сверхстабильная колонка и источники питания для повышения производительности прибора - Возможность одновременного получения изображений с Cs-коррекцией в РЭМ и СТЭМ с атомным разрешением - Новый высокостабильный штатив для образцов с боковым входом и держатели образцов - Симметрично противоположные двойные детекторы EDX* площадью 100 мм2 : "Symmetrical Dual SDD*" - Корпус новой конструкции для оптимальной работы в реальных лабораторных условиях - Широкий выбор усовершенствованных держателей образцов Hitachi* Высокояркий Cold FEG×Высокостабильный×Автоматический корректор аберраций Hitachi В новом высокостабильном Cold FEG используется тщательно переработанная версия давно зарекомендовавшей себя технологии источника электронов с холодной полевой эмиссией Hitachi.

---

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

analytica 2024
analytica 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A2 - Стенд 113

  • Дополнительная информация
    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 апр. 2024 Stuttgart (Германия) Стенд 7103

  • Дополнительная информация
    Посмотреть все выставки

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.