Микроскоп ПРЭМ HF5000

для испытания материаловдля анализа материаловметрологии

HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при напряжении 60-200 кВ, как в РЭМ. Это особенно удобно для экспериментов с газом и нагревом in-situ, в которых газ вступает в реакцию с поверхностью образца. Благодаря Cs-корректору поверхность можно визуализировать с атомным разрешением. Рутинное и быстрое переключение между ТЭМ и СТЭМ делает ежедневную работу с полностью автоматизированным Cs-корректором простой даже для новичков в области ТЭМ. Особенности прибора: - Источник электронов с холодной полевой эмиссией с энергетически узкой полосой излучения, идеально подходящий для визуализации с высоким разрешением и EELS - Полностью автоматизированный Cs-корректор Hitachi STEM - Детектор вторичных электронов для получения наложенной информации о поверхности образца в корреляции с сигналом проходящих электронов - Эксперименты ETEM, например, возможны в открытой газовой атмосфере