video corpo

Электронный сканирующий микроскоп SU series
многоцелевойдля анализовдля контроля качества

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
электронный сканирующий
Применение
для измерения шероховатости поверхности, для анализов, для исследований, для электронных компонентов, для контроля поверхности, для проверки материалов, промышленный, металлографический, для контроля качества, для испытания материалов, для фармацевтической промышленности, многоцелевой, для керамического материала
Конфигурация
напольный
Тип детектора
вторичных электронов, обратно-рассеянных электронов
Другие характеристики
для полупроводника, высокое разрешение, автоматизированный, сканирующий, с переменным давлением, для плоских проб, для полированных образцов, для топографии, для нанотехнологии, для определения асбеста, для наук о Земле, для применения в обработке микроизображений
Увеличение

МАКС.: 800 000 unit

МИН.: 5 unit

Пространственное разрешение

3 nm, 4 nm, 15 nm

Описание

Производительность и мощность в гибкой платформе Сканирующие электронные микроскопы SU3800/SU3900 компании Hitachi High-Tech обладают высокой производительностью и расширяемостью. Оператор может автоматизировать многие операции и эффективно использовать их высокую производительность. Модель SU3900 оснащена большой многоцелевой камерой для образцов, позволяющей наблюдать большие образцы. 1.Значительно увеличенная камера для образцов позволяет работать с крупногабаритными и тяжелыми образцами ■ Надежный штатив для гибкого изменения размера, формы и веса образцов - Последовательность замены образцов предотвращает возможное повреждение системы или образца. - Замена образцов производится без выпуска воздуха из камеры для образцов, что повышает производительность. - Повышение эффективности манипуляций с образцами благодаря режиму Stage Free Mode*. - Chamber Scope повышает безопасность перемещений стола*. ■ Увеличенная зона обзора-SEM MAP расширяет границы навигации по образцу - Встроенный в камеру дисплей - Удобная навигация по всей зоне наблюдения - Вращение, ориентированное на детектор 2.Эволюция рынка - усовершенствованные автоматические функции для операторов любого уровня квалификации ■Многочисленные режимы работы ■ Автоматические функции для операторов любого уровня квалификации Улучшенные алгоритмы автофокусировки - в 3 раза быстрее (по сравнению с моделью Hitachi S-3700N) Улучшенная функция автофокусировки Особенности запатентованной технологии Intelligent Filament Technology (IFT): ■Мультизигзаг обеспечивает широкое наблюдение на нескольких участках. ■Report Creator создает отчеты о полученных данных. 3.Интегрированные решения для различных областей применения разнообразные аксессуары, устанавливаемые на любой из 20 портов инновационной камеры для образцов SU3900. ■Система интеграции СЭМ/ЭДС*

---

ВИДЕО

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

36th Control 2024
36th Control 2024

23-26 апр. 2024 Stuttgart (Германия) Стенд 7103

  • Дополнительная информация
    The Advanced Materials Show

    15-16 мая 2024 Birmingham (Великобритания)

  • Дополнительная информация

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.