Электронный сканирующий микроскоп SU3800/3900 Family

для измерения шероховатости поверхностидля анализовдля исследований

Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются две различные камеры для образцов с вольфрамовой или полевой эмиссионной оптикой Шоттки. Оба прибора SU3800 и SU3900 имеют общее программное обеспечение, электронику и детекторную платформу. Особенности продукта: - Высокоэффективные детекторы Hitachi: -- Детектор вторичных электронов для высокого вакуума -- 5-сегментный полупроводниковый детектор обратнорассеянных электронов для высокого и низкого вакуума, выбор различных режимов сигнала, таких как контраст материала, топография поверхности, 3D -- Дополнительный многофункциональный детектор "UVD": Вторичные электроны в низком вакууме, катод сигнал люминесценции, трансмиссия (STEM, в сочетании со специальным держателем образца) - Современная электронная оптика без полей, опционально с полевым эмиттером Шоттки или с надежными, недорогими и, благодаря интеллектуальному управлению, долговечными вольфрамовыми катодами со шпильками - Удобство работы даже с неэлектропроводящими образцами благодаря встроенному эффективному режиму работы в низком вакууме, который при необходимости можно переключить одним щелчком мыши - Для идеального обзора: Цветные навигационные изображения пластин с образцами охватывают всю область образца, наблюдаемую с помощью SEM - Беззаботная работа - столкновения между столиком и компонентами РЭМ практически исключены благодаря автоматически применяемому ограничению перемещения в динамическом диапазоне