video corpo

Электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете SU9000II
для анализовдля исследованийBF-STEM

электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
электронный с разверткой в проходящем свете
Применение
для анализов, для исследований
Метод наблюдения
BF-STEM, DF-STEM
Конфигурация
напольный
Источник электронов
с холодной полевой эмиссией
Тип детектора
вторичных электронов, обратно-рассеянных электронов
Другие характеристики
высокого разрешения, для плоских проб, для полупроводника, для полированных образцов, для топографии, для нанотехнологии, для определения асбеста, для полупроводниковых пластин, для применения в обработке микроизображений, ультравысокое разрешение
Увеличение

3 000 000 unit

Пространственное разрешение

0,4 nm, 0,8 nm, 1,2 nm

Описание

Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun обеспечивает максимальную яркость и стабильность пучка, позволяя получать изображения высокого разрешения и проводить высококачественный элементный анализ. Для обеспечения стабильного сбора данных при максимальной производительности прибора SU9000II предлагает новые возможности автоматической настройки оптической системы и новый программный пакет EM Flow Creator в качестве опции для автоматизированного сбора данных, в частности, последовательного сбора данных. Кроме того, уникальная конструкция оптической системы позволяет использовать EELS для расширенного анализа материалов. SU9000 - новый премиальный РЭМ компании HITACHI. Он обладает уникальной электронной оптикой, в которой образец располагается в зазоре между верхней и нижней частями полюса объектива. Эта так называемая концепция "true in-lens" в сочетании с новым поколением технологии эмиссии холодного поля HITACHI гарантирует высочайшее разрешение системы (разрешение SE 0,4 нм при 30 кВ, 1,2 нм при 1 кВ без использования технологии замедления пучка [0,8 нм с замедлением пучка]) и стабильность. Для обеспечения практической применимости этой разрешающей способности в лаборатории в SU9000 используется сверхстабильный штатив с боковым входом образца, аналогичный высококлассным системам ТЭМ, оптимизированное гашение вибраций и закрытый корпус для защиты электронной оптики от внешних шумов.

---

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

analytica 2024
analytica 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A2 - Стенд 113

  • Дополнительная информация
    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 апр. 2024 Stuttgart (Германия) Стенд 7103

  • Дополнительная информация
    Посмотреть все выставки

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.