Микроскопы 3D

Вам нужна помощь с выбором продукции?  Ознакомьтесь с нашим руководством по покупке
28 компании | 68 товаров
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
Search
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
Helios 5 DualBeam

Пространственное разрешение: 0,3 nm - 1,5 nm

... атомно-зондовой томографии. Простота в использовании с усовершенствованной автоматизацией. Возможность высококачественной подповерхностной 3D-характеристики. Новая модель Thermo Scientific Helios 5 DualBeam ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
Helios 5

... Комбинированный инструмент для плазменной фокусировки ионного пучка и лазерной абляции для высокопроизводительного поперечного сечения миллиметрового масштаба и трехмерной характеризации с нанометровым разрешением. Сочетание фрезерования ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
Helios 5 Hydra DualBeam

Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6, 1,2 nm

... Плазменная сканирующая электронная микроскопия со сфокусированным ионным пучком с несколькими видами ионов для 3D EM и TEM пробоподготовки. Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam (сканирующий электронный ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп конфокальный с лазерным сканером
микроскоп конфокальный с лазерным сканером
LEXT™ OLS5100

Увеличение : 54 unit - 17 280 unit
Вес: 31, 32, 50, 43 kg

Лазерный микроскоп для анализа материалов Оптимизированный рабочий процесс, быстрые эксперименты Созданный для анализа отказов и исследований в области материаловедения, лазерный микроскоп OLS5100 сочетает в себе исключительную точность ...

микроскоп для контроля
микроскоп для контроля
THUNDER

... реорганизации внутри нейронной сети или за перестройкой и созданием новых синапсов. Другими словами, вы можете декодировать 3D биологию в режиме реального времени. ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
микроскоп для контроля
микроскоп для контроля
DM12000 M

... Оптические функции, предлагаемые Leica DM12000 M, такие как опциональный режим макросъемки или наклонная УФ-подсветка (OUV, с опцией i-line UV), не только улучшают разрешающую способность, но и ускоряют пропускную способность при осмотре ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
микроскоп метрологии
микроскоп метрологии
DCM8

... оптимизации характеристик материалов. Ваша поверхность имеет крутые склоны или сложные формы? Достигайте вертикального разрешения до 2 нм с помощью конфокальной микроскопии. Гладкая ли ваша поверхность с микропиками ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
оптоцифровой микроскоп
оптоцифровой микроскоп
Smartzoom 5

... С помощью серии ZEISS Industrial Microscopy Series компания ZEISS поддерживает своих клиентов в получении, управлении и использовании данных микроскопии последовательно в многопользовательской среде, в нескольких отделах и для различных ...

Показать другие изделия
ZEISS Industrial Metrology
микроскоп для анализов
микроскоп для анализов
ZEISS Smartproof 5

... Встроенный широкопольный конфокальный микроскоп ZEISS Smartproof 5 - это ваша система для анализа поверхности в области обеспечения качества и контроля качества. Используется в широком спектре промышленных применений, таких как шероховатость ...

Показать другие изделия
ZEISS Industrial Metrology
микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Xradia 410 Versa

... ZEISS Xradia 410 Versa Ваше решение для рабочей лошади для субмикронного 3D-изображения Пересечение зазора в лабораторной неразрушающей субмикронной микроскопии Xradia 410 Versa позволяет преодолеть ...

Показать другие изделия
ZEISS Industrial Metrology
рамановский микроскоп
рамановский микроскоп
DXR3xi

Пространственное разрешение: 0,5, 2 µm

... Усовершенствованный анализ частиц для быстрого выявления и анализа мельчайших загрязнений в пробе 3D конфокальная визуализация обеспечивает неразрушающее, неинвазивное трехмерное сканирование ...

микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Xradia 810 Ultra

Увеличение : 800 unit
Пространственное разрешение: 50 nm

... среди лабораторных систем рентгеновской визуализации. Оцените непревзойденную производительность и гибкость при неразрушающей 3D визуализации, которая играет важную роль в современных прорывных исследованиях. ...

микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Xradia Versa

Пространственное разрешение: 0,9, 0,7, 0,5 µm

... Компания ZEISS представляет две новые усовершенствованные модели семейства ZEISS Xradia Versa: Рентгеновские микроскопы ZEISS Xradia 610 и 620 Versa отличаются более быстрой неразрушающей визуализацией неповрежденных образцов без потери ...

микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Xradia Context microCT

Пространственное разрешение: 0,95 µm

... управлению позиционированием источника/детектора вы можете получать изображения больших, тяжелых (25 кг) и высоких образцов в полном 3D контексте, а также маленьких образцов с высоким разрешением и детализацией. ...

микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU8600

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... изображение справа). Интеллектуальная система обнаружения для низковольтной BSE визуализации Изображение поперечного сечения 3D NAND; Оксидный слой и нитридный слой конденсатора легко различимы на изображении ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU5000

Пространственное разрешение: 1,2 nm

... наблюдения за 3 минуты или менее. - Автоматизированная, интуитивно понятная оптимизация изображений "на лету". - Визуальное и интерактивное руководство предлагает "выбрать" режимы SEM для обеспечения наилучших условий ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
электронный трансмиссионый микроскоп
электронный трансмиссионый микроскоп
HT7800 series

Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14, 0,19 nm

... поэтапной навигации обеспечивает поиск по всей сетке и эффективное получение изображений. - Автоматизированная сшивка изображений, 3D-томография, STEM, EDX, in-situ и другие опции доступны для широкого ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
MF series

Увеличение : 2 000 unit
Пространственное разрешение: 0,5, 0,1, 1 µm

цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
DEEPFOCUS 1

Увеличение : 49 unit - 353 unit

... необходимость в перемещении компонентов и избегая любой дополнительной повторной фокусировки или обработки Z-стека. Расширенная 3D визуализация Микроскоп с увеличенной глубиной резкости DeepFocus ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
PCE-IVM 3D

Увеличение : 18 unit - 93 unit

... Этот механический 3D-микроскоп имеет большое рабочее расстояние 175 мм. Таким образом, анализ еще более крупных объектов значительно упрощается. 3D-микроскоп обеспечивает ...

микроскоп 3D
микроскоп 3D
PCE-IDM 3D

Увеличение : 7 unit - 150 unit

... увеличивать большие объекты с помощью 3D-цифрового микроскопа. Плюс. 3D-цифровой микроскоп по-прежнему имеет бесступенчатую подсветку. Благодаря такому освещению ваш ...

цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
PCE-OVM 3D

Увеличение : 25, 30, 15, 20 unit

... к функции 2D-изображения, изображение цифрового микроскопа также может отображаться в 3D. Это позволяет еще более точно исследовать компоненты. В комплект поставки входит специальный ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
WM1 200 series

... или ЧПУ - наши два пакета измерительного программного обеспечения, SAPHIR и M3, доступны в обоих случаях. В классе начального уровня измерительное программное обеспечение M3 устанавливает стандарты интуитивного ...

атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
LensAFM

Пространственное разрешение: 14 µm - 110 µm

... обычный объектив, тем самым увеличивая разрешение и измерительные возможности этих приборов. LensAFM не только предоставляет 3D топографическую информацию о поверхности, но и может быть использован для ...

электронный микроскоп
электронный микроскоп
0.5 μm, 150 x 100 mm | VMS-1510G

цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
KH-8700

оптический микроскоп
оптический микроскоп
Ultima Investigator Plus

... Доступный многофотонный микроскоп с большим полем зрения, который растет вместе с вашими исследованиями Будучи наиболее усовершенствованной моделью семейства многофотонных микроскопов Ultima компании Bruker, Ultima Investigator Plus ...

Показать другие изделия
Bruker Nano Surfaces
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Phenom Pure

Увеличение : 70 unit - 30 000 unit

... SEM Феномен Настольный компьютер Феномен Чистый: Экономичное решение для СЭМ-изображений высокого разрешения - Phenom Pro: Самый профессиональный настольный SEM изображения Phenom настольные SEM оснащен длительным сроком службы, высокой ...

микроскоп с разверткой зонда
микроскоп с разверткой зонда
LEAP 5000 series

3D атомно-зондовый микроскоп с непревзойденной эффективностью трехмерного анализа в субнанометровом масштабе LEAP 5000 представляет собой ультрасовременный атомно-зондовый микроскоп производства CAMECA, ...

микроскоп с туннельным эффектом
микроскоп с туннельным эффектом
LT STM

... Увеличенное время выдержки до >65 часов при том же уровне производительности Высокочастотная проводка Увеличенное спектроскопическое разрешение Рекордно проверенная платформа с 1996 года, на которой установлено более 200 устройств Надежная ...

микроскоп ТЕЛЕЖКИ
микроскоп ТЕЛЕЖКИ
RAMOS CARS

... 3D сканирующий лазерный спектрометр RAMOS CARS Многофункциональный - RAMOS CARS сочетает в себе: - сканирующий микроскоп CARS - рамановский / люминесцентный сканирующий конфокальный микроскоп - Обычный ...

Показать другие изделия
Ostec
цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
Omni 3

Увеличение : 3 unit - 68 unit
Вес: 1,5 kg
Длина: 216 mm

... быстрый анализ дефектов на наличие/отсутствие. Высота Z Приложение для измерения Измерения в 3D на новом Omni 3. Теперь вы можете измерять по оси Z ...

микроскоп с разверткой зонда
микроскоп с разверткой зонда
AA5000

Пространственное разрешение: 0,26, 0,13 nm

... Сканирующий зондовый микроскоп AA5000 компании Angstrom обеспечивает получение изображений атомного масштаба до 100 мкм. Он оснащен STM, AFM, LFM проводящими AFM, MFM, EFM, SPM экологического контроля и методами нанообработки. Благодаря ...

микроскоп для лабораторий
микроскоп для лабораторий
CLS Series

микроскоп 3D
микроскоп 3D
ONESHOT

... ONESHOT Только в мире: Однократное автоматическое измерение + X Y Z Координаты Даже крупные объекты автоматически измеряются путем комбинирования координат X. Y. Z 3D ...

микроскоп для измерений
микроскоп для измерений
SM 151

Увеличение : 7 unit - 45 unit

Высококачественная оптика для получения интенсивно освещенных и четких трехмерных изображений Плавное изменение кратности увеличения благодаря объективу с переменным фокусным расстоянием Фокусировка выполняется с помощью эргономичных ...

микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
SKYSCAN 1273

... Высокопроизводительная 3D-рентгеновская микроскопия с большой емкостью SKYSCAN 1273 - это новейший настольный 3D рентгеновский микроскоп Bruker, основанный на технологии ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки