- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп 3D
Микроскопы 3D
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 0,3 nm - 1,5 nm
Вес: 500 g
... атомно-зондовой томографии. Простота в использовании с усовершенствованной автоматизацией. Возможность высококачественной подповерхностной 3D-характеристики. FIB-пробоподготовка Новая система Thermo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 1 030, 515 nm
... подготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ), подготовка образцов для атомно-зондовой томографии (АЗТ) и трехмерный структурный анализ. ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 1,2, 0,6, 1, 0,7 nm
... подготовку образцов для сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM) и просвечивающей электронной микроскопии (TEM), 3D-характеристики материалов или клеточной криотомографии. Вы можете ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,5, 2 µm
... Усовершенствованный анализ частиц для быстрого выявления и анализа мельчайших загрязнений в пробе 3D конфокальная визуализация обеспечивает неразрушающее, неинвазивное трехмерное сканирование ...
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm
... изображение справа). Интеллектуальная система обнаружения для низковольтной BSE визуализации Изображение поперечного сечения 3D NAND; Оксидный слой и нитридный слой конденсатора легко различимы на изображении ...
Пространственное разрешение: 1,2 nm
... наблюдения за 3 минуты или менее. - Автоматизированная, интуитивно понятная оптимизация изображений "на лету". - Визуальное и интерактивное руководство предлагает "выбрать" режимы SEM для обеспечения наилучших условий ...
Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14, 0,19 nm
... поэтапной навигации обеспечивает поиск по всей сетке и эффективное получение изображений. - Автоматизированная сшивка изображений, 3D-томография, STEM, EDX, in-situ и другие опции доступны для широкого ...
Увеличение : 54 unit - 17 280 unit
Вес: 31, 32, 50, 43 kg
Лазерный микроскоп для анализа материалов Оптимизированный рабочий процесс, быстрые эксперименты Созданный для анализа отказов и исследований в области материаловедения, лазерный микроскоп OLS5100 сочетает в себе исключительную точность ...
... Оптические функции, предлагаемые Leica DM12000 M, такие как опциональный режим макросъемки или наклонная УФ-подсветка (OUV, с опцией i-line UV), не только улучшают разрешающую способность, но и ускоряют пропускную способность при осмотре ...
Leica Microsystems GmbH
... быстрым отображением изображения в реальном времени (30 изображений в секунду). Интеллектуальное программное обеспечение для 2D- и 3D-измерений, воспроизводимых результатов и создания ...
Leica Microsystems GmbH
... Максимизируйте информацию, извлекаемую из образца, и получайте подробные ответы на научные вопросы с помощью пакета детектирования LIGHTNING для извлечения информации об изображении. LIGHTNING полностью автоматически определяет лучшие ...
Leica Microsystems GmbH
... специфическими требованиями вашего образца. Вы сами выбираете, что дает наилучшие результаты для вашего эксперимента по получению 3D изображений высокого разрешения - большое поле зрения, высокая скорость ...
Увеличение : 49 unit - 353 unit
... необходимость в перемещении компонентов и избегая любой дополнительной повторной фокусировки или обработки Z-стека. Расширенная 3D визуализация Микроскоп с увеличенной глубиной резкости DeepFocus ...
Увеличение : 2 000 unit
Пространственное разрешение: 0,5, 0,1, 1 µm
... С помощью серии ZEISS Industrial Microscopy Series компания ZEISS поддерживает своих клиентов в получении, управлении и использовании данных микроскопии последовательно в многопользовательской среде, в нескольких отделах и для различных ...
ZEISS Industrial Metrology
Увеличение : 18 unit - 93 unit
... Этот механический 3D-микроскоп имеет большое рабочее расстояние 175 мм. Таким образом, анализ еще более крупных объектов значительно упрощается. 3D-микроскоп обеспечивает ...
Увеличение : 7 unit - 150 unit
... увеличивать большие объекты с помощью 3D-цифрового микроскопа. Плюс. 3D-цифровой микроскоп по-прежнему имеет бесступенчатую подсветку. Благодаря такому освещению ваш ...
... или ЧПУ - наши два пакета измерительного программного обеспечения, SAPHIR и M3, доступны в обоих случаях. В классе начального уровня измерительное программное обеспечение M3 устанавливает стандарты интуитивного ...
Пространственное разрешение: 14 µm - 110 µm
... обычный объектив, тем самым увеличивая разрешение и измерительные возможности этих приборов. LensAFM не только предоставляет 3D топографическую информацию о поверхности, но и может быть использован для ...
Вес: 1,4 kg
... Discovery V8 впечатляет повышенным разрешением, увеличенным контрастом и, что особенно важно, ощутимо улучшенным стереоскопическим 3D-изображением. В результате он обеспечивает яркость изображения, не ...
Hitech Instruments
... Микроскоп серии ZTX-S использует оптическую систему формирования изображения с высоким разрешением, точной четкостью и сильным ощущением трехмерности, прост в эксплуатации. Микроскоп широко используется в производстве полупроводников ...
... изображению, "Live Analysis" для поиска составных элементов для области наблюдения изображения, и "Live 3D" для отображения реконструированного 3D изображения во время ...
Увеличение : 31, 63 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 255 nm
... Оптическая конфигурация в сочетании с высокой скоростью сбора данных InVi SPIM позволяет проводить 3D-реконструкцию, отслеживать клеточные и субклеточные структуры и проводить морфологический анализ в ...
Bruker Nano Surfaces
... набора данных. Invizo® 6000 - идеальный выбор для проведения передовых исследований в самых разных областях применения. В основе 3D-атомного зонда Invizo® 6000 компании CAMECA лежит совершенно новая ...
CAMECA
... 3D сканирующий лазерный спектрометр RAMOS CARS Многофункциональный - RAMOS CARS сочетает в себе: - сканирующий микроскоп CARS - рамановский / люминесцентный сканирующий конфокальный микроскоп - Обычный ...
Ostec
... Увеличенное время выдержки до >65 часов при том же уровне производительности Высокочастотная проводка Увеличенное спектроскопическое разрешение Рекордно проверенная платформа с 1996 года, на которой установлено более 200 устройств Надежная ...
Увеличение : 3 unit - 68 unit
Вес: 1,5 kg
Длина: 216 mm
... быстрый анализ дефектов на наличие/отсутствие. Высота Z Приложение для измерения Измерения в 3D на новом Omni 3. Теперь вы можете измерять по оси Z ...
Пространственное разрешение: 0,26, 0,13 nm
... Сканирующий зондовый микроскоп AA5000 компании Angstrom обеспечивает получение изображений атомного масштаба до 100 мкм. Он оснащен STM, AFM, LFM проводящими AFM, MFM, EFM, SPM экологического контроля и методами нанообработки. Благодаря ...
... ONESHOT Только в мире: Однократное автоматическое измерение + X Y Z Координаты Даже крупные объекты автоматически измеряются путем комбинирования координат X. Y. Z 3D ...
... Высокопроизводительная 3D-рентгеновская микроскопия с большой емкостью SKYSCAN 1273 - это новейший настольный 3D рентгеновский микроскоп Bruker, основанный на технологии ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось