Микроскопы 3D

Вам нужна помощь с выбором продукции?  Ознакомьтесь с нашим руководством по покупке
29 компании | 59 товаров
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
Search
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
Helios 5 DualBeam

Пространственное разрешение: 0,3 nm - 1,5 nm
Вес: 500 g

... атомно-зондовой томографии. Простота в использовании с усовершенствованной автоматизацией. Возможность высококачественной подповерхностной 3D-характеристики. FIB-пробоподготовка Новая система Thermo ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп FIB/SEM
микроскоп FIB/SEM
Helios 5

Пространственное разрешение: 515, 1 030 nm

... подготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ), подготовка образцов для атомно-зондовой томографии (АЗТ) и трехмерный структурный анализ. ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп ПРЭМ
микроскоп ПРЭМ
Helios 5 Hydra

Пространственное разрешение: 2, 5, 1, 4, 20 µm

... подготовку образцов для сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM) и просвечивающей электронной микроскопии (TEM), 3D-характеристики материалов или клеточной криотомографии. Вы можете ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
рамановский микроскоп
рамановский микроскоп
DXR3xi

Пространственное разрешение: 0,5, 2 µm

... Усовершенствованный анализ частиц для быстрого выявления и анализа мельчайших загрязнений в пробе 3D конфокальная визуализация обеспечивает неразрушающее, неинвазивное трехмерное сканирование ...

микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU8600

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... изображение справа). Интеллектуальная система обнаружения для низковольтной BSE визуализации Изображение поперечного сечения 3D NAND; Оксидный слой и нитридный слой конденсатора легко различимы на изображении ...

микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU5000

Пространственное разрешение: 1,2 nm

... наблюдения за 3 минуты или менее. - Автоматизированная, интуитивно понятная оптимизация изображений "на лету". - Визуальное и интерактивное руководство предлагает "выбрать" режимы SEM для обеспечения наилучших условий ...

электронный трансмиссионый микроскоп
электронный трансмиссионый микроскоп
HT7800 series

Увеличение : 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,2, 0,14, 0,19 nm

... поэтапной навигации обеспечивает поиск по всей сетке и эффективное получение изображений. - Автоматизированная сшивка изображений, 3D-томография, STEM, EDX, in-situ и другие опции доступны для широкого ...

микроскоп конфокальный с лазерным сканером
микроскоп конфокальный с лазерным сканером
LEXT™ OLS5100

Увеличение : 54 unit - 17 280 unit
Вес: 31, 32, 50, 43 kg

Лазерный микроскоп для анализа материалов Оптимизированный рабочий процесс, быстрые эксперименты Созданный для анализа отказов и исследований в области материаловедения, лазерный микроскоп OLS5100 сочетает в себе исключительную точность ...

микроскоп для контроля
микроскоп для контроля
DM12000 M

... Оптические функции, предлагаемые Leica DM12000 M, такие как опциональный режим макросъемки или наклонная УФ-подсветка (OUV, с опцией i-line UV), не только улучшают разрешающую способность, но и ускоряют пропускную способность при осмотре ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
оптоцифровой микроскоп
оптоцифровой микроскоп
DVM6

... быстрым отображением изображения в реальном времени (30 изображений в секунду). Интеллектуальное программное обеспечение для 2D- и 3D-измерений, воспроизводимых результатов и создания ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
микроскоп для лабораторий
микроскоп для лабораторий
LIGHTNING

... Максимизируйте информацию, извлекаемую из образца, и получайте подробные ответы на научные вопросы с помощью пакета детектирования LIGHTNING для извлечения информации об изображении. LIGHTNING полностью автоматически определяет лучшие ...

Показать другие изделия
Leica Microsystems GmbH
оптический микроскоп
оптический микроскоп
InVi SPIM Lattice Pro

... специфическими требованиями вашего образца. Вы сами выбираете, что дает наилучшие результаты для вашего эксперимента по получению 3D изображений высокого разрешения - большое поле зрения, высокая скорость ...

цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
DEEPFOCUS 1

Увеличение : 49 unit - 353 unit

... необходимость в перемещении компонентов и избегая любой дополнительной повторной фокусировки или обработки Z-стека. Расширенная 3D визуализация Микроскоп с увеличенной глубиной резкости DeepFocus ...

металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
MF series

Увеличение : 2 000 unit
Пространственное разрешение: 0,5, 0,1, 1 µm

оптоцифровой микроскоп
оптоцифровой микроскоп
Smartzoom 5

... С помощью серии ZEISS Industrial Microscopy Series компания ZEISS поддерживает своих клиентов в получении, управлении и использовании данных микроскопии последовательно в многопользовательской среде, в нескольких отделах и для различных ...

Показать другие изделия
ZEISS Industrial Metrology
оптический микроскоп
оптический микроскоп
PCE-IVM 3D

Увеличение : 18 unit - 93 unit

... Этот механический 3D-микроскоп имеет большое рабочее расстояние 175 мм. Таким образом, анализ еще более крупных объектов значительно упрощается. 3D-микроскоп обеспечивает ...

микроскоп 3D
микроскоп 3D
PCE-IDM 3D

Увеличение : 7 unit - 150 unit

... увеличивать большие объекты с помощью 3D-цифрового микроскопа. Плюс. 3D-цифровой микроскоп по-прежнему имеет бесступенчатую подсветку. Благодаря такому освещению ваш ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
WM1 200 series

... или ЧПУ - наши два пакета измерительного программного обеспечения, SAPHIR и M3, доступны в обоих случаях. В классе начального уровня измерительное программное обеспечение M3 устанавливает стандарты интуитивного ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
ZTX-S series

... Микроскоп серии ZTX-S использует оптическую систему формирования изображения с высоким разрешением, точной четкостью и сильным ощущением трехмерности, прост в эксплуатации. Микроскоп широко используется в производстве полупроводников ...

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
JCM-7000 NeoScope™

... изображению, "Live Analysis" для поиска составных элементов для области наблюдения изображения, и "Live 3D" для отображения реконструированного 3D изображения во время ...

микроскоп с разверткой зонда
микроскоп с разверткой зонда
Invizo® 6000

... набора данных. Invizo® 6000 - идеальный выбор для проведения передовых исследований в самых разных областях применения. В основе 3D-атомного зонда Invizo® 6000 компании CAMECA лежит совершенно новая ...

Показать другие изделия
CAMECA
микроскоп ТЕЛЕЖКИ
микроскоп ТЕЛЕЖКИ
RAMOS CARS

... 3D сканирующий лазерный спектрометр RAMOS CARS Многофункциональный - RAMOS CARS сочетает в себе: - сканирующий микроскоп CARS - рамановский / люминесцентный сканирующий конфокальный микроскоп - Обычный ...

Показать другие изделия
Ostec
микроскоп с туннельным эффектом
микроскоп с туннельным эффектом
LT STM

... Увеличенное время выдержки до >65 часов при том же уровне производительности Высокочастотная проводка Увеличенное спектроскопическое разрешение Рекордно проверенная платформа с 1996 года, на которой установлено более 200 устройств Надежная ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
Stereo Discovery V8

Вес: 1,4 kg

... Discovery V8 впечатляет повышенным разрешением, увеличенным контрастом и, что особенно важно, ощутимо улучшенным стереоскопическим 3D-изображением. В результате он обеспечивает яркость изображения, не ...

Показать другие изделия
Hitech Instruments
электронный микроскоп
электронный микроскоп
0.5 μm, 150 x 100 mm | VMS-1510G

цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
Omni 3

Увеличение : 3 unit - 68 unit
Вес: 1,5 kg
Длина: 216 mm

... быстрый анализ дефектов на наличие/отсутствие. Высота Z Приложение для измерения Измерения в 3D на новом Omni 3. Теперь вы можете измерять по оси Z ...

микроскоп с разверткой зонда
микроскоп с разверткой зонда
AA5000

Пространственное разрешение: 0,26, 0,13 nm

... Сканирующий зондовый микроскоп AA5000 компании Angstrom обеспечивает получение изображений атомного масштаба до 100 мкм. Он оснащен STM, AFM, LFM проводящими AFM, MFM, EFM, SPM экологического контроля и методами нанообработки. Благодаря ...

атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
LensAFM

Пространственное разрешение: 14 µm - 110 µm

... обычный объектив, тем самым увеличивая разрешение и измерительные возможности этих приборов. LensAFM не только предоставляет 3D топографическую информацию о поверхности, но и может быть использован для ...

микроскоп для лабораторий
микроскоп для лабораторий
CLS Series

микроскоп 3D
микроскоп 3D
ONESHOT

... ONESHOT Только в мире: Однократное автоматическое измерение + X Y Z Координаты Даже крупные объекты автоматически измеряются путем комбинирования координат X. Y. Z 3D ...

микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
SKYSCAN 1273

... Высокопроизводительная 3D-рентгеновская микроскопия с большой емкостью SKYSCAN 1273 - это новейший настольный 3D рентгеновский микроскоп Bruker, основанный на технологии ...

микроскоп для измерений
микроскоп для измерений
SM 151

Увеличение : 7 unit - 45 unit

Высококачественная оптика для получения интенсивно освещенных и четких трехмерных изображений Плавное изменение кратности увеличения благодаря объективу с переменным фокусным расстоянием Фокусировка выполняется с помощью эргономичных ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки