＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Исследуйте, разрабатывайте и анализируйте материалы, особенно металлографические образцы, в кратчайшие сроки с помощью ZEISS Axio Observer. Воспользуйтесь преимуществами его перевернутой конструкции. Axio Observer сочетает в себе качество ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Пространственное разрешение: 0,7, 1,2 nm
... GeminiSEM - это легкая визуализация с субнанометровым разрешением. Эти FE-SEM (полевые эмиссионные сканирующие электронные микроскопы) сочетают в себе превосходство в визуализации и аналитике. Инновации в области электронной ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для начинающих пользователей. ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Семейство ZEISS Sigma сочетает в себе технологию полевого эмиссионного сканирующего электронного микроскопа (FE-SEM) с превосходным пользовательским интерфейсом. Структурируйте свои процедуры получения изображений и анализа ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... , проходящих через фокальную плоскость, объединяются для создания одного изображения в фокусе. В классических системах микроскопии этот процесс может занимать много времени и быть сложным. ZEISS Visioner 1 позволяет ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Увеличение : 1 unit - 100 unit
Вес: 40, 18 kg
Длина: 721 mm
... материалов Если вы проводите передовые исследования материалов, внедрите простоту использования в рабочий процесс световой микроскопии. Получите точные и воспроизводимые результаты с помощью ZEISS Axio Imager 2 для материалов. ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Увеличение : 20 unit
Длина: 304 mm
Ширина: 210 mm
... Микроскоп для рутинной материалографии и интеллектуальной документации Цифровая документация еще никогда не была такой простой. ZEISS Axiolab 5 - это правильный выбор, если ваши рутинные задачи по материалографии предъявляют ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Вес: 32, 14, 20 kg
Длина: 240, 458,5 mm
Ширина: 293,5, 429 mm
... Вертикальный световой микроскоп ZEISS Axioscope был разработан специально для удовлетворения наиболее распространенных требований к оптическому изображению в лабораториях по исследованию материалов. Это правильный выбор, ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Интегрированный широкопольный конфокальный микроскоп для анализа поверхности при обеспечении и контроле качества Универсальный широкопольный конфокальный микроскоп ZEISS Smartproof 5 - это ваша интегрированная ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось