- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для электронной промышленности
Микроскопы для электронной промышленности
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает субнанометровое разрешение во всем диапазоне энергий ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 6 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Ширина: 340 mm
... Для ускорения научных открытий необходим мощный анализ данных. Но для этого также необходима универсальность. Thermo Scientific Quattro ESEM поможет вам проанализировать самый широкий спектр образцов среди всех РЭМ Thermo Scientific и включает в себя ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm
... Сканирующий электронный микроскоп для универсальной, высокопроизводительной визуализации и анализа материалов. Лаборатории по определению характеристик современных материалов требуют доступа к новейшим методам и доводят аналитические инструменты, включая ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
... Оцените эффективность и комфорт ежедневной микроскопии. Микроскоп для материалов Visoria M предназначен для применения в металлургии, электронике и полимерной промышленности, а также в лабораториях материаловедения. Оптимизируйте рабочие процессы с помощью ...
микроскоп с рентгеновским излучениемZEISS XRADIA Context microCT
... Микрокомпьютерный томограф (микроКТ) ZEISS Xradia Context® - это простая в использовании система для анализа всех типов образцов. Детектор с высокой решеткой обеспечивает высокое разрешение мелких деталей даже при относительно большом объеме изображения. ...
электронный сканирующий микроскопSU3800/3900 Family
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются две различные ...
Увеличение : 1 unit - 330 unit
Пространственное разрешение: 10 nm
... Обзор
Инфракрасный (IR) микроскоп AIMsight — это автоматизированная система FT-IR анализа, разработанная для максимальной автоматизации и повышения эффективности анализа микропроб, дефектов и загрязнений. Система измеряет микроцели, облучая ...
Увеличение : 50 unit
Вес: 45 kg
... Микроскопы Nikon ECLIPSE L300ND, L300N и L200ND, L200NA - это серия полупроводниковых микроскопов, идеально подходящих для контроля интегральных схем (IC), плоскопанельных дисплеев (FPD), электронных устройств с крупномасштабной интеграцией (LSI) и многих ...
Nikon Metrology
Увеличение : 32, 50, 6, 10 unit
Компактная цифровая микроскопическая система Full HD для быстрого и точного осмотра там, где это необходимо. Высококачественная оптика, изготовленная по индивидуальному заказу, и цифровые функции в сочетании с превосходными характеристиками. Идеально ...
Vision Engineering Ltd.
Увеличение : 5 unit - 100 unit
Пространственное разрешение: 2 µm
Длина: 18 cm
... Описание продукта
WY-C — инвертированный металлографический микроскоп, оснащённый профессиональными план-апохроматическими объективами с большим рабочим расстоянием и план-окулярами, обеспечивающий высокое разрешение, высокий контраст и комфортное ...
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 137 g
... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций Dino-Lite AM7915MZT - это чудо техники и лучший выбор для требовательных профессионалов. Dino-Lite AM7915MZT предлагает превосходное качество изображения ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 5 unit - 50 unit
Вес: 105 g
Длина: 10,5 cm
... Модели Dino-Lite Edge обеспечивают превосходное качество изображения и высокий уровень гибкости благодаря адаптируемой конструкции колпачка. Встроенный регулируемый поляризатор уменьшает блики и отражения на блестящих объектах. Эта модель может работать ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 20 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 135 g
... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций, таких как гибкое управление светодиодами (FLC) и полностью алюминиевый корпус, Dino-Lite AM7115MZT - это чудо техники и лучший выбор для профессионалов, ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 15,5 unit - 100 unit
... ●Экран с высоким разрешением: 10,6-дюймовый IPS LCD, разрешение до 1366 * 768, может представить чрезвычайно четкие детали микроскопического изображения; широкоформатный IPS-экран обеспечивает более широкое поле зрения, что позволяет наблюдать большую ...
Mikrosize
... Микроскоп серии ZTX-S использует оптическую систему формирования изображения с высоким разрешением, точной четкостью и сильным ощущением трехмерности, прост в эксплуатации. Микроскоп широко используется в производстве полупроводников и интегральных ...
Ningbo Huaguang Precision Instrument Co., Ltd.
электронный сканирующий микроскопSEM3200
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости и удобную для ...
CIQTEK Co., Ltd.
Вес: 8,5, 9,5, 10,1, 9,1 kg
Длина: 467 mm
Ширина: 192 mm
... Микроскоп для работы с материалами с отраженным и проходящим светом и возможностью беспроводной визуализации. Primotech - это интеллектуальное решение для получения изображений с привлекательным соотношением цены и качества. Беспроводной доступ к нескольким ...
Пространственное разрешение: 0,02 µm
... Обзор продукта
Атомно-силовой микроскоп (wafer-level AFM) — это высокоразрешающий зондовый сканирующий прибор, предназначенный для характеристики трехмерной морфологии поверхности и многофункциональных свойств проводников, полупроводников и ...
Увеличение : 2 unit - 73 unit
Вес: 5 kg
... Новая разработка HD-Inspektor II - это инновационное, высококонкурентное устройство для инспекции, доработки и ремонта с интеллектуальной HD-камерой с 30-кратным оптическим зумом исключительного качества и разрешения изображения. Время осмотра значительно ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo