
Группа: HITACHI

Вся продукция Hitachi High-Tech Europe GmbH
Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)
Focused Ion Beam Systems (FIB/FIB-SEM)
Sample and Cross-Section Preparation
-
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Настольный микроскоп
- Микроскоп с цифровой камерой
- Микроскоп для измерений
- Микроскоп для анализов
- Микроскоп со светлым фоном
- Микроскоп высокое разрешение
- Автоматизированный микроскоп
Удалить все сравниваемые товары
Сравнить до 10 товаров