video corpo

Микроскоп FIB/SEM NX5000
для анализовнапольныйс холодной полевой эмиссией

микроскоп FIB/SEM
микроскоп FIB/SEM
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
FIB/SEM
Применение
для анализов
Конфигурация
напольный
Источник электронов
с холодной полевой эмиссией
Источник ионов
с галлием
Тип детектора
вторичных электронов, обратно-рассеянных электронов
Другие характеристики
автоматизированный, высокая скорость, режим реального времени, для полупроводника, для полированных образцов, для нанотехнологии, для одновременного приема, высокой точности, ультравысокое разрешение
Пространственное разрешение

0,7 nm, 1,5 nm, 4 nm, 60 nm

Описание

Непревзойденная производительность и максимальная гибкость FIB-SEM Hitachi Ethos - это FE-SEM последнего поколения с превосходной яркостью и стабильностью луча. Ethos обеспечивает получение изображений высокого разрешения при низком напряжении в сочетании с ионной оптикой для прецизионной обработки наноразмеров. Ключевые особенности 1. Высокопроизводительная колонка FE-SEM с режимом двойного объектива - Наблюдение со сверхвысоким разрешением (режим HR: полулинзовый) - Высокоточное определение конечных точек в реальном времени (режим FF: Field Free (режим разделения времени)) 2. Высокопроизводительная обработка материалов - Сверхбыстрая обработка с высокой плотностью ионного тока (макс. ток пучка: 100 нА) - Программируемый пользователем сценарий для автоматической обработки и наблюдения 3. Система микропробоотбора - Полностью интегрированный контроль ориентации образца для обеспечения эффекта антизавихрения (технология ACE) - Подготовка образцов для ТЕМ для получения однородных ламелей при любой ориентации 4. Возможность трехлучевой обработки, обеспечивающая высокое качество результатов - Обработка материалов ионным пучком ионов благородных газов с низким ускорением - Инновационные функции снижают количество артефактов, связанных с ионами Ga, и других артефактов фрезерования 5. Большая многопортовая камера и стадия для различных применений - Система, способная работать с образцами большого размера, с исключительной стабильностью положения - Полный диапазон улучшенного слежения на больших расстояниях (155 x 155 мм) Усовершенствованная электронная оптика и многосигнальная детекция Колонна РЭМ Ethos состоит из системы составных объективов с магнитным и электростатическим полем, сконфигурированной в виде двух режимов объектива. Режим высокого разрешения (HR) обеспечивает наблюдение образца с максимальным разрешением за счет погружения образца в магнитное поле системы линз. Режим Field Free (FF) обеспечивает обработку FIB в реальном времени для высокоточного фрезерования конечных точек.

---

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

analytica 2024
analytica 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A2 - Стенд 113

  • Дополнительная информация
    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 апр. 2024 Stuttgart (Германия) Стенд 7103

  • Дополнительная информация
    Посмотреть все выставки
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.