video corpo

Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) SU7000
для анализовна местеBF-STEM

микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
с полевой эмиссией катода (FESEM)
Применение
для анализов
Метод наблюдения
BF-STEM, DF-STEM, на месте
Конфигурация
напольный
Источник электронов
с автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки)
Тип детектора
вторичных электронов, обратно-рассеянных электронов
Другие характеристики
для нанотехнологии, для одновременного приема, ультравысокое разрешение
Увеличение

МИН.: 20 unit

МАКС.: 2 000 000 unit

Пространственное разрешение

0,8 nm, 0,9 nm

Описание

Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функциональных возможностей, включая наблюдение в широкой области, анализ in-situ, переменное давление, получение изображений высокого разрешения при низких ускоряющих напряжениях и одновременный сбор нескольких сигналов. SU7000 призван решить эти и другие задачи, предоставляя расширенную информацию для удовлетворения самых разнообразных потребностей в области электронной микроскопии. Познайте наномир с помощью SU7000! Универсальные возможности получения изображений 1. SU7000 обеспечивает быстрое получение множества сигналов, что позволяет решать самые разнообразные задачи РЭМ - от получения изображений с широким полем зрения до визуализации субнанометровых структур и всего остального. 2. Использование новой электронной оптики и систем детектирования позволяет эффективно получать одновременно несколько сигналов от вторичных и обратно рассеянных электронов. 2. Многоканальная визуализация Количество детекторов, устанавливаемых на РЭМ, постоянно растет, как и необходимость эффективного отображения всей собранной информации. SU7000 способен обрабатывать, отображать и сохранять до 6 сигналов одновременно, что позволяет максимально эффективно собирать информацию. Широкое разнообразие методов наблюдения 4. Камера для образцов и вакуумная система оптимизированы для: - больших размеров образцов - Манипулирование образцом по различным осям - Переменные условия давления - Криогенные условия - Нагрев и охлаждение при наблюдении in-situ

---

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

analytica 2024
analytica 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A2 - Стенд 113

  • Дополнительная информация
    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 апр. 2024 Stuttgart (Германия) Стенд 7103

  • Дополнительная информация
    Посмотреть все выставки

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.