Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) SU7000
для анализовBF-STEMDF-STEM

Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для анализов / BF-STEM / DF-STEM
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - SU7000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для анализов / BF-STEM / DF-STEM
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

fo_shop_gate_exact_title

Характеристики

Тип
с полевой эмиссией катода (FESEM)
Применение
для анализов
Метод наблюдения
BF-STEM, DF-STEM, на месте
Конфигурация
напольный
Источник электронов
с автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки)
Тип детектора
вторичных электронов, обратно-рассеянных электронов
Другие характеристики
для нанотехнологии, для одновременного приема, ультравысокое разрешение
Увеличение

МАКС.: 2 000 000 unit

МИН.: 20 unit

Пространственное разрешение

0,8 nm, 0,9 nm

Описание

SU7000 идеально подходит для больших или тяжелых образцов и для интеграции широкого спектра аксессуаров. К таким принадлежностям относятся аналитические детекторы или насадки для манипуляций с образцами in-situ (растяжение [растяжение] / сжатие, нагрев / охлаждение, зондирование, серийные срезы микротома и т. д.). Как и SU8700, SU7000 оснащен универсальной электронной оптикой Hitachi с высоким разрешением и отсутствием поля (состоящей из эмиттера Шоттки и усилителя пучка) и имеет большую аналитическую камеру для образцов с полностью выдвигающимся столиком для образцов. Этап подходит для образцов диаметром до 200 мм, высотой до 80 мм и массой до 2 кг. Камера оснащена несколькими точками доступа к камере для образцов и дверце камеры. Удобная навигация по сцене обеспечивается встроенной цветной камерой. Особенности продукта: - Долговечный и стабильный полевой эмиттер Шоттки Hitachi с током зонда до 200 нА - Великолепные характеристики визуализации - без необходимости создания противоположного поля на образце - при ускоряющем напряжении от 100 В (опция 10 В) до 30 кВ - Большая камера для аналитических образцов с множеством отверстий для доступа к аксессуарам и эвцентрическим штативом для образцов высотой до 80 мм и диаметром до 200 мм - Рабочее расстояние аналитического EDX 6 мм позволяет одновременно или быстро сменять работу с высоким разрешением и аналитическую работу

---

Каталоги

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

K 2025
K 2025

8-15 окт. 2025 Düsseldorf (Германия)

  • Дополнительная информация

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.