video corpo

Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) SU8700
для анализовнапольныйс автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки)

микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
с полевой эмиссией катода (FESEM)
Применение
для анализов
Конфигурация
напольный
Источник электронов
с автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки)
Тип детектора
вторичных электронов, обратно-рассеянных электронов, с энергодисперсионным детектором рентгеновского излучения
Другие характеристики
автоматизированный, сканирующий, с переменным давлением, ультравысокое разрешение
Увеличение

МИН.: 20 unit

МАКС.: 2 000 000 unit

Пространственное разрешение

0,8 nm, 0,9 nm

Описание

Модель SU8700 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с полевой эмиссией Шоттки в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM включает в себя многогранную визуализацию, высокий ток зонда, автоматизацию, эффективные рабочие процессы для пользователей с любым уровнем опыта и многое другое. Сверхвысокое разрешение Высокояркий источник холодной полевой эмиссии Hitachi обеспечивает получение изображений со сверхвысоким разрешением даже при сверхнизких напряжениях. Слева: частица цеолита типа RHO при низком напряжении. Для выявления тонкой ступенчатой структуры на поверхности изображение было получено при напряжении посадки 0,8 кВ. Благодаря этому хорошо видна очень тонкая структура ступенек на поверхности (изображение справа). Интеллектуальная система обнаружения для низковольтной BSE-визуализации Изображение поперечного сечения 3D NAND; Оксидный и нитридный слои конденсатора легко различимы на изображении благодаря возможности обнаружения BSE. Быстрая визуализация BSE: новый кристалл типа Out-Column BSED (OCD) Благодаря использованию нового кристалла типа Out-Column BSED (OCD)* время получения изображения составило менее ОДНОЙ СЕКУНДЫ, при этом хорошо видны межслойные соединения нижних слоев и структура Fin FET в SRAM.

---

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

analytica 2024
analytica 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A2 - Стенд 113

  • Дополнительная информация
    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 апр. 2024 Stuttgart (Германия) Стенд 7103

  • Дополнительная информация
    Посмотреть все выставки

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.