video corpo

Микроскоп SEM TM4000 series
для анализовдля измеренийметодом контраста атомных номеров

микроскоп SEM
микроскоп SEM
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
SEM
Применение
для анализов, для измерений
Метод наблюдения
методом контраста атомных номеров, для топографии
Конфигурация
настольный, компактный
Тип детектора
обратно-рассеянных электронов, вторичных электронов
Другие характеристики
простая установка, с цифровой камерой, высокое разрешение, автоматизированный, для обработки изображений, экономичный, механизированный, для наук о Земле, для нанотехнологии, для использования в воздухе или в жидкости, для топографии, с профилометром, сканирующий, с переменным давлением, для интеграции с микроскопом и профилометром, для определения асбеста, для плоских проб, высококонтрастный, для полированных образцов, со значительным увеличением
Увеличение

МИН.: 10 unit

МАКС.: 25 000 054 unit

Вес

54 kg
(119 lb)

Длина

614 mm, 617 mm
(24,2 in, 24,3 in)

Ширина

330 mm
(13 in)

Высота

547 mm
(21,5 in)

Описание

Серия TM4000 отличается инновациями и передовыми технологиями, которые по-новому определяют возможности настольных микроскопов. Это новое поколение давно известных настольных микроскопов Hitachi (TM) объединяет в себе простоту использования, оптимизированную визуализацию и высокое качество изображения, сохраняя при этом компактный дизайн хорошо зарекомендовавших себя продуктов Hitachi серии TM. Оцените новое измерение настольных микроскопов Hitachi TM4000 II и TM4000Plus II. Качественное изображение можно получить с помощью простых действий. Автоматизация, наблюдение и элементный анализ Легкое переключение изображений одним нажатием кнопки. Быстрое получение элементных карт Образец: движение часов Интуитивно понятное управление камерой Camera Navi * Использование оптических изображений помогает легко ориентироваться в целевой области наблюдения. Полученные SEM-изображения могут быть наложены на SEM MAP-изображение. Создатель отчетов Просто выберите изображения и шаблон для создания индивидуального отчета. Созданные отчеты можно сохранять/редактировать в форматах Microsoft Office®. Различные приложения для получения изображений, использующие режим низкого вакуума. Режим уменьшения заряда Заряд на образце может быть уменьшен одним нажатием кнопки. Получение изображений различных материалов в условиях низкого вакуума На изображениях показаны наблюдения за непроводящими образцами, такими как частицы чернильного тонера и гидратированная поверхность листа. Инновационный вторично-избирательный детектор для получения деталей поверхности непроводящих образцов в условиях низкого вакуума TM4000Plus II может наблюдать не только проводящие, но и непроводящие или гидратированные образцы без пробоподготовки. Переключение между BSE и SE осуществляется легко.

---

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

analytica 2024
analytica 2024

9-12 апр. 2024 München (Германия) Зал A2 - Стенд 113

  • Дополнительная информация
    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 апр. 2024 Stuttgart (Германия) Стенд 7103

  • Дополнительная информация
    Посмотреть все выставки

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.