Микроскоп SEM TM4000PlusIII
для измеренийдля анализовдля топографии

Микроскоп SEM - TM4000PlusIII - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для измерений / для анализов / для топографии
Микроскоп SEM - TM4000PlusIII - Hitachi High-Tech Europe GmbH - для измерений / для анализов / для топографии
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
SEM
Применение
для анализов, для измерений
Метод наблюдения
методом контраста атомных номеров, для топографии
Конфигурация
настольный, компактный
Тип детектора
обратно-рассеянных электронов, вторичных электронов
Другие характеристики
с цифровой камерой, высокое разрешение, автоматизированный, механизированный, для топографии, для нанотехнологии, со значительным увеличением, для интеграции с микроскопом и профилометром, экономичный, высококонтрастный, для обработки изображений, простая установка, сканирующий, с переменным давлением, для наук о Земле, для определения асбеста, с профилометром, для использования в воздухе или в жидкости, для плоских проб, для полированных образцов
Увеличение

МИН.: 10 unit

МАКС.: 250 000 unit

Описание

Разработанный как логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, глубиной резкости и контрастом между различными материалами. И все это без трудоемкой подготовки (без покрытия). При необходимости вы также можете определить химический состав и распределение элементов. Простая навигация по моторизованному столику с образцами X,Y осуществляется с помощью автоматически генерируемого цветного фотообзора с возможностью масштабирования. На месте его можно дополнить снимками SEM. Характеристики прибора: - EDX с размером сенсора 30 мм2 или 60 мм2 может быть полностью интегрирован, мгновенное переключение между наблюдением и анализом элементов - 4 ускоряющих напряжения 5 | 10 | 15 | 20 кВ с 5 режимами тока зонда для каждого - Оптическая цветная навигационная камера - 3 ступени давления в камере - 4-сегментный детектор обратно рассеянных электронов - Считывание тока зонда и функция IFT

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Hitachi High-Tech Europe GmbH

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Control 2025
Control 2025

6-09 мая 2025 Stuttgart (Германия)

  • Дополнительная информация
    K-Messe	2025
    K-Messe 2025

    8-15 окт. 2025 Düsseldorf (Германия)

  • Дополнительная информация

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.