Электронный сканирующий микроскоп FlexSEM II
многоцелевойдля анализовдля осмотра неметаллических включений

Электронный сканирующий микроскоп - FlexSEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - многоцелевой / для анализов / для осмотра неметаллических включений
Электронный сканирующий микроскоп - FlexSEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - многоцелевой / для анализов / для осмотра неметаллических включений
Электронный сканирующий микроскоп - FlexSEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - многоцелевой / для анализов / для осмотра неметаллических включений - изображение - 2
Электронный сканирующий микроскоп - FlexSEM II - Hitachi High-Tech Europe GmbH - многоцелевой / для анализов / для осмотра неметаллических включений - изображение - 3
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
электронный сканирующий
Применение
для проверки материалов, для осмотра неметаллических включений, для анализов, биомедицинский, для измерения шероховатости поверхности, металлографический, для контроля качества, для испытания материалов, многоцелевой
Конфигурация
настольный, компактный, напольный
Источник электронов
с термоэлектронной эмиссией
Тип детектора
обратно-рассеянных электронов, вторичных электронов
Другие характеристики
высокое разрешение, автоматизированный, механизированный, простая установка, со значительным увеличением, высококонтрастный, сканирующий, с переменным давлением, для плоских проб, для полированных образцов, для топографии, для определения асбеста, для нанотехнологии, высокой точности
Увеличение

МИН.: 6 unit

МАКС.: 800 000 unit

Пространственное разрешение

4 nm, 15 nm

Описание

FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на компромисс с производительностью визуализации и вариативностью детектора. Особенности продукта: - 4 нм @ 20 кВ Электронная оптика высокого разрешения с энергией пучка от 300 до 20 кэВ - Высокий и регулируемый низкий вакуум до 100 Па - Стандартный SE и 4+1 сегментный детектор обратного рассеяния, опционально низковакуумный SE (UVD); также может использоваться для катодолюминесцентной и STEM визуализации, оптической цветной навигационной камеры и камертоскопа - 5-осевой штатив для образцов диаметром до макс. 153 мм в диаметре и 40 мм в высоту

---

ВИДЕО

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Hitachi High-Tech Europe GmbH

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Control 2025
Control 2025

6-09 мая 2025 Stuttgart (Германия)

  • Дополнительная информация
    K-Messe	2025
    K-Messe 2025

    8-15 окт. 2025 Düsseldorf (Германия)

  • Дополнительная информация

    Другие изделия Hitachi High-Tech Europe GmbH

    Electron Microscopes (SEM/TEM/STEM)

    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.