Электронные микроскопы

Вам нужна помощь с выбором продукции?  Ознакомьтесь с нашим руководством по покупке
11 компании | 40 товаров
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
Search
Электронные микроскопы | Как правильно выбрать микроскоп
Существует две большие категории микроскопов: оптические микроскопы и электронные микроскопы. Основное различие между этими двумя типами микроскопов заключается в том, каким образом просматривается образец, называемый препаратом. Это определяет качество изображения (увеличение, цветное или черно-белое изображение). В оптическом микроскопе через препарат, размещенный на предметном стекле, проходят световые лучи: Разрешение составляет порядка 200...
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
Helios 5 DualBeam

Пространственное разрешение: 0,3 nm - 1,5 nm

... Подготовка образцов для получения изображений TEM и STEM или атомно-зондовой томографии. Простота в использовании с усовершенствованной автоматизацией. Возможность высококачественной подповерхностной 3D-характеристики. FIB-пробоподготовка Новая ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
Phenom Pharos G2

Увеличение : 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 2, 3, 10 nm

... Настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной пушкой для получения высококачественных изображений в различных дисциплинах. Полевой эмиссионный растровый электронный микроскоп Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
Helios 5

Пространственное разрешение: 1 030, 515 nm

... Фрезерование сфокусированным ионным пучком и фемтосекундная лазерная абляция Лазерные системы Thermo Scientific Helios 5 PFIB сочетают в себе плазменное фрезерование сфокусированным ионным пучком с фемтосекундной лазерной абляцией и визуализацией ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
SU9000

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun обеспечивает максимальную яркость и стабильность пучка, ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU7000

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функциональных возможностей, включая наблюдение в широкой области, анализ in-situ, переменное давление, получение изображений высокого разрешения при низких ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU5000

Пространственное разрешение: 1,2 nm

... Инновационный аналитический FE-SEM обеспечивает простой переход между режимом высокого вакуума и переменного давления. EM Wizard - это основанная на знаниях система для визуализации РЭМ, которая выходит за рамки базовых предустановленных ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
Crossbeam

... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. Вы можете работать ...

Показать другие изделия
ZEISS Métrologie industrielle
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
ZEISS EVO

... В области промышленного качества, анализа неисправностей или исследований сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) является оптимальным решением для металлографии и анализа неисправностей благодаря своей способности получать изображения ...

электронный микроскоп
электронный микроскоп
BK20

... ЦИФРОВОЙ МИКРОСКОП ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ БРИНЕЛИ ISO 6506 - ASTM E10 Электронный микроскоп для автоматического измерения индентации Бринеля шариком диаметром 2,5 или 5 или 10 мм -удобный и компактный -Автоматическая регулировка ...

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SEM3200

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 3, 4, 8 nm
Вес: 480 kg

... CIQTEK SEM3200 - высокопроизводительный растровый электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обладает отличным качеством изображения, совместимостью с режимом низкого вакуума, высоким разрешением изображений в различных полях зрения. ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SEM5000

Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 1, 1,5, 0,8 nm
Вес: 950 kg

... CIQTEK SEM5000 - полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM, FEG SEM) с высоким разрешением и широкими возможностями. Усовершенствованная конструкция колонны, технология высоковольтного туннелирования (SuperTunnel), ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SEM4000

Пространственное разрешение: 0,9, 1 nm

... CIQTEK SEM4000 - аналитический термополевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп, оснащенный высокояркой полевой эмиссионной электронной пушкой Шоттки с длительным сроком службы. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
электронный микроскоп
электронный микроскоп
JEM-Z300FSC

... JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300), оснащенный эмиссионной пушкой холодного поля, внутриколоночным энергетическим фильтром Omega, боковой ступенью охлаждения жидким азотом и автоматизированной системой замены образцов, представляет собой криоэлектронный ...

Показать другие изделия
Jeol
электронный микроскоп
электронный микроскоп
FOCUS PEEM

Пространственное разрешение: 20 nm

... Поверхностная чувствительная микроскопия 20 нм Боковое разрешение Местная спектроскопия k-Space Imaging Простота в эксплуатации Совместимость с системами UHV MULTIPROBE UHV Продукт FOCUS Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) ...

электронный микроскоп
электронный микроскоп
0.5 μm, 150 x 100 mm | VMS-1510G

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
ECHO VS™

электронный микроскоп
электронный микроскоп
AA8000

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 3 nm

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки