＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm
Вес: 75 kg
... В быстро меняющемся мире производства и анализа аккумуляторов скорость - это все. Но не менее важен и точный анализ частиц. Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM обеспечивает и то, и другое. Он обеспечивает в 10 раз более высокую производительность, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Вес: 75 kg
... Настольный FEG-SEM Thermo Scientific Phenom Pharos G2 был разработан для того, чтобы помочь вам анализировать мелкие частицы с высоким разрешением и с молниеносной скоростью. Но что не менее важно для занятых руководителей лабораторий, он обеспечивает ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает субнанометровое разрешение во всем диапазоне энергий ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,7, 1,2 nm
... ZEISS GeminiSEM - это легкая визуализация с субнанометровым разрешением. Эти FE-SEM (полевые эмиссионные сканирующие электронные микроскопы) сочетают в себе превосходство в визуализации и аналитике. Инновации в области электронной оптики и новая конструкция ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для начинающих пользователей. Благодаря широкому спектру ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. Вы можете работать в многопользовательском ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
электронный микроскоп с разверткой в проходящем светеSU9000 II
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной электронной оптике ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm
... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем загрязнения и высоким ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm
... Модель SU8600 является преемником хорошо зарекомендовавшего себя семейства полевых эмиссионных РЭМ Regulus и отвечает самым высоким требованиям, предъявляемым к приложениям, ориентированным на получение изображений. Эмиттер холодного поля с почти монохроматическим ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... «Быстрая и простая в эксплуатации, позволяющая получать высококонтрастные изображения с высоким разрешением». CRYO ARM™ 300 II — это криоэлектронный микроскоп, который специализируется на наблюдении за чувствительными к электронному лучу образцами, ...
Jeol
Увеличение : 50 unit
Вес: 45 kg
... Микроскопы Nikon ECLIPSE L300ND, L300N и L200ND, L200NA - это серия полупроводниковых микроскопов, идеально подходящих для контроля интегральных схем (IC), плоскопанельных дисплеев (FPD), электронных устройств с крупномасштабной интеграцией (LSI) и многих ...
... ЦИФРОВОЙ МИКРОСКОП ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ БРИНЕЛИ ISO 6506 - ASTM E10 Электронный микроскоп для автоматического измерения индентации Бринеля шариком диаметром 2,5 или 5 или 10 мм -удобный и компактный -Автоматическая регулировка света -Точность ...
Увеличение : 20 unit - 220 unit
Вес: 125 g
Длина: 10,5 cm
... Dino-Lite AM5218MZT Edge можно напрямую подключить к HDTV или ЖК-монитору через прямой цифровой интерфейс DVI/HDMI. Он обеспечивает четкое и яркое разрешение HD 720p для отображения даже самых мелких деталей. AM5218MZT Edge - идеальный выбор в ситуациях, ...
Пространственное разрешение: 20 nm
... Поверхностная чувствительная микроскопия 20 нм Боковое разрешение Местная спектроскопия k-Space Imaging Простота в эксплуатации Совместимость с системами UHV MULTIPROBE UHV Продукт FOCUS Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) - это чрезвычайно ...
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 3 nm
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости и удобную для ...
CIQTEK Co., Ltd.
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки