＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 0,3 nm - 1,5 nm
Вес: 500 g
... Подготовка образцов для получения изображений TEM и STEM или атомно-зондовой томографии. Простота в использовании с усовершенствованной автоматизацией. Возможность высококачественной подповерхностной 3D-характеристики. FIB-пробоподготовка Новая ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 2, 10, 3 nm
... Настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной пушкой для получения высококачественных изображений в различных дисциплинах. Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной пушкой Thermo Scientific Phenom Pharos ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,6, 1,2, 0,7, 1 nm
... Сканирующий электронный микроскоп с плазменным сфокусированным ионным пучком для подготовки образцов ТЭМ, включая 3D-характеристики, поперечное сечение и микрообработку. Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (сканирующий ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun обеспечивает максимальную яркость и стабильность пучка, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm
... Модель SU8700 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с полевой эмиссией Шоттки в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM включает в себя многогранную визуализацию, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm
... Модель SU8600 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с холодной эмиссией поля в давно существующей линейке ЭМ-микроскопов Hitachi. Эта революционная платформа CFE-SEM включает в себя многогранную ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... В области промышленного качества, анализа неисправностей или исследований сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) является оптимальным решением для металлографии и анализа неисправностей благодаря своей способности получать изображения ...
... ЦИФРОВОЙ МИКРОСКОП ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ БРИНЕЛИ ISO 6506 - ASTM E10 Электронный микроскоп для автоматического измерения индентации Бринеля шариком диаметром 2,5 или 5 или 10 мм -удобный и компактный -Автоматическая регулировка ...
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 3, 4, 8 nm
Вес: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 - высокопроизводительный растровый электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обладает отличным качеством изображения, совместимостью с режимом низкого вакуума, высоким разрешением изображений в различных полях зрения. ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 1, 1,5, 0,8 nm
Вес: 950 kg
... CIQTEK SEM5000 - полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM, FEG SEM) с высоким разрешением и широкими возможностями. Усовершенствованная конструкция колонны, технология высоковольтного туннелирования (SuperTunnel), ...
CIQTEK Co., Ltd.
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5 nm
... CIQTEK SEM4000Pro - это аналитический полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп, оснащенный высокояркой долговечной полевой эмиссионной электронной пушкой Шоттки. Благодаря трехступенчатой конструкции электронно-оптической ...
CIQTEK Co., Ltd.
... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. Вы можете работать ...
ZEISS Métrologie industrielle
... JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300), оснащенный эмиссионной пушкой холодного поля, внутриколоночным энергетическим фильтром Omega, боковой ступенью охлаждения жидким азотом и автоматизированной системой замены образцов, представляет собой криоэлектронный ...
Jeol
Пространственное разрешение: 20 nm
... Поверхностная чувствительная микроскопия 20 нм Боковое разрешение Местная спектроскопия k-Space Imaging Простота в эксплуатации Совместимость с системами UHV MULTIPROBE UHV Продукт FOCUS Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) ...
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 3 nm
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось