＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
электронный микроскоп с разверткой в проходящем светеSU9000 II
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm
... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm
... Модель SU8600 является преемником хорошо зарекомендовавшего себя семейства полевых эмиссионных РЭМ Regulus и отвечает самым высоким требованиям, предъявляемым к приложениям, ориентированным на получение изображений. Эмиттер холодного ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Пространственное разрешение: 0,7, 1,2 nm
... ZEISS GeminiSEM - это легкая визуализация с субнанометровым разрешением. Эти FE-SEM (полевые эмиссионные сканирующие электронные микроскопы) сочетают в себе превосходство в визуализации и аналитике. Инновации в области электронной оптики ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для начинающих пользователей. Благодаря ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. Вы можете работать ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 000 nm
... Настольный SEM обеспечивает высокое качество производства стали за счет анализа отказов и совершенствования процессов. Металлургам и исследователям в области производства стали необходимы данные сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 2, 10, 3 nm
... Настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной пушкой для получения высококачественных изображений в различных дисциплинах. Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной пушкой Thermo Scientific Phenom Pharos ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает субнанометровое разрешение во ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
... ЦИФРОВОЙ МИКРОСКОП ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ БРИНЕЛИ ISO 6506 - ASTM E10 Электронный микроскоп для автоматического измерения индентации Бринеля шариком диаметром 2,5 или 5 или 10 мм -удобный и компактный -Автоматическая регулировка ...
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x Камера для ...
CIQTEK Co., Ltd.
«Быстрая и простая в эксплуатации, позволяющая получать высококонтрастные изображения с высоким разрешением». CRYO ARM™ 300 II — это криоэлектронный микроскоп, который специализируется на наблюдении за чувствительными к электронному ...
Jeol
Пространственное разрешение: 20 nm
... Поверхностная чувствительная микроскопия 20 нм Боковое разрешение Местная спектроскопия k-Space Imaging Простота в эксплуатации Совместимость с системами UHV MULTIPROBE UHV Продукт FOCUS Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) ...
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 3 nm
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось