Электронный сканирующий микроскоп JSM-IT810

для контроляс автоэлектронной эмиссией (эффект Шоттки)ДОРЭ

Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией с помощью серии FE-SEM JSM-IT810. Встроенная автоматизация визуализации и анализа EDS без кодирования обеспечивает оптимизированный и эффективный рабочий процесс. Доступны новые функции, обеспечивающие высокое качество данных и улучшенный пользовательский интерфейс для всех пользователей SEM. Функции включают пакет автоматической настройки SEM, функцию трапецеидальной коррекции (полезную для измерений EBSD) и реконструкцию поверхности Live 3D для наблюдения за топографией поверхности. С серией JSM-IT810 эксплуатация FE SEM еще никогда не была такой простой.СЭМ-наблюдение и EDS-анализ можно автоматизировать, просто задав условия анализа и выбрав области для измерения.Пакет автоматической настройки SEM (дополнительно): эта функция использует специальный образец для калибровки увеличения, выравнивания луча и калибровки энергии EDS. Регулярные проверки гарантируют, что оборудование остается в оптимальном состоянии.Выберите наш многосегментный детектор BSE полупроводникового типа, чтобы создать живую 3D-реконструкцию поверхности образца. Просмотрите 3D-изображение в режиме реального времени, чтобы проверить топологию образца. Функциональность нового поколения, которая устраняет барьеры между наблюдением с помощью SEM и элементным анализом с помощью EDS. Различные методы анализа, такие как точка, площадь, карта и линия, можно зарезервировать непосредственно на экране наблюдения, что позволяет немедленно начать анализ. Пожалуйста, обратитесь к брошюре.