Электронный микроскоп JEM-ARM300F2

для анализовнапольныйс холодной полевой эмиссией

Выпущен новый электронный микроскоп с атомарным разрешением! "GRAND ARM™2" был модернизирован. Этот новый «GRAND ARM™2» позволяет проводить наблюдения со сверхвысоким пространственным разрешением с высокочувствительным анализом в широком диапазоне ускоряющих напряжений. Особенности Feature1 Недавно разработанный полюсный наконечник объектива FHP2 Полюсный наконечник объектива FHP оптимизирован для наблюдений со сверхвысоким пространственным разрешением. При сохранении этой возможности форма полюсного наконечника была дополнительно оптимизирована для телесного угла рентгеновского излучения и угла взлета крупногабаритных двойных SDD (158 мм).2). В результате эффективная эффективность обнаружения рентгеновского излучения FHP2 более чем в два раза выше, чем у FHP. Он может обеспечить субангстремное разрешение в картах элементов EDS. Feature2 Новый корпус Колонка TEM закрыта корпусом коробчатого типа, который может уменьшить влияние изменений окружающей среды, таких как температура, поток воздуха, акустический шум и т. д., а затем улучшает стабильность микроскопа. Feature3 Корректор ETA и JEOL COSMO™ Быстрая и точная коррекция аберраций JEOL COSMO™ использует только 2 ронхиграммы, полученные из любой аморфной области, для измерения и исправления аберраций. Таким образом, система может обеспечить быструю и точную коррекцию аберраций без использования специальных образцов.