Микроскоп SEM JIB-4700F
для анализовДОРЭвысокое разрешение

микроскоп SEM
микроскоп SEM
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
SEM
Применение
для анализов
Тип детектора
ДОРЭ
Другие характеристики
высокое разрешение, высокая скорость
Увеличение

МИН.: 20 unit

МАКС.: 1 000 000 unit

Пространственное разрешение

1,2 nm, 1,6 nm, 4 nm

Описание

Успехи в разработке новых материалов со сложными наноструктурами предъявляют повышенные требования к приборам FIB-SEM, обеспечивающим исключительное разрешение, точность и производительность. В ответ на это компания JEOL разработала многолучевую систему JIB-4700F для использования в морфологических наблюдениях, элементном и кристаллографическом анализе различных образцов. JIB-4700F оснащен гибридной конической объективной линзой, режимом GENTLEBEAM™ (GB) и системой внутрилинзовых детекторов, обеспечивающих гарантированное разрешение 1,6 нм при низком ускоряющем напряжении 1 кВ. Используя "эмиссионную электронную пушку Шоттки в линзе", которая производит электронный пучок с максимальным током зонда 300 нА, этот недавно разработанный прибор позволяет проводить наблюдения с высоким разрешением и быстрый анализ. Для колонны FIB используется ионный пучок Ga с высокой плотностью потока и максимальным током зондирования до 90 нА для быстрого ионного фрезерования и обработки образцов. Одновременно с высокоскоростной обработкой поперечных сечений с помощью FIB можно проводить высокоразрешающие РЭМ наблюдения и быстрый анализ с использованием энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS) и дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD). Кроме того, в стандартную комплектацию JIB-4700F входит функция трехмерного анализа, позволяющая автоматически получать изображения РЭМ через определенные промежутки времени в процессе обработки поперечного сечения Высокое разрешение РЭМ наблюдения Гарантированное разрешение 1,6 нм при низком ускоряющем напряжении 1 кВ обеспечивается магнитным/электростатическим гибридным коническим объективом, режимом GB и внутрилинзовым детектором.

---

ВИДЕО

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Jeol

Другие изделия Jeol

Scientific Instruments

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.