Электронный трансмиссионый микроскоп JEM-ARM200F
для анализовс холодной полевой эмиссиейс цифровой камерой

Электронный трансмиссионый микроскоп - JEM-ARM200F - Jeol - для анализов / с холодной полевой эмиссией / с цифровой камерой
Электронный трансмиссионый микроскоп - JEM-ARM200F - Jeol - для анализов / с холодной полевой эмиссией / с цифровой камерой
Электронный трансмиссионый микроскоп - JEM-ARM200F - Jeol - для анализов / с холодной полевой эмиссией / с цифровой камерой - изображение - 2
Электронный трансмиссионый микроскоп - JEM-ARM200F - Jeol - для анализов / с холодной полевой эмиссией / с цифровой камерой - изображение - 3
Электронный трансмиссионый микроскоп - JEM-ARM200F - Jeol - для анализов / с холодной полевой эмиссией / с цифровой камерой - изображение - 4
Электронный трансмиссионый микроскоп - JEM-ARM200F - Jeol - для анализов / с холодной полевой эмиссией / с цифровой камерой - изображение - 5
Электронный трансмиссионый микроскоп - JEM-ARM200F - Jeol - для анализов / с холодной полевой эмиссией / с цифровой камерой - изображение - 6
Электронный трансмиссионый микроскоп - JEM-ARM200F - Jeol - для анализов / с холодной полевой эмиссией / с цифровой камерой - изображение - 7
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
электронный трансмиссионый
Применение
для анализов
Источник электронов
с холодной полевой эмиссией
Другие характеристики
с цифровой камерой, автоматический, для наблюдения, ультравысокое разрешение
Пространственное разрешение

МИН.: 0,08 nm

МАКС.: 0,23 nm

Описание

"NEOARM" / JEM-ARM200F поставляется с уникальным пистолетом JEOL с холодной полевой эмиссией (Cold FEG) и новым корректором Cs (ASCOR), который компенсирует аберрации более высокого порядка. Комбинация холодного FEG и ASCOR позволяет получать изображения с атомарным разрешением не только при ускоряющем напряжении 200 кВ, но и при низком напряжении 30 кВ. NEOARM также оснащен автоматической системой коррекции аберраций, которая включает в себя новый алгоритм коррекции аберраций JEOL для автоматической быстрой и точной коррекции аберраций. Эта система позволяет получать изображения с атомарным разрешением с более высокой пропускной способностью. Кроме того, в стандартную комплектацию входит новый STEM-детектор, обеспечивающий повышенный контраст световых элементов. Контрастное усиление легких элементов достигается с помощью нового метода визуализации STEM (e-ABF: улучшенный ABF), облегчающего наблюдение материалов легких элементов даже при низких ускоряющих напряжениях. Комната с микроскопом отделена от операционной, чтобы можно было выполнять удаленные операции. Кроме того, были приняты новые концептуальные цвета продуктов JEOL: «чистый белый» и «серебристый JEOL», что привело к утонченному внешнему дизайну «NEOARM». Особенности Особенность 1 Корректор сферической аберрации (Cs) ASCOR (Advanced STEM corrector) АСКОР, входящий в состав «НЕОАРМ», может подавлять шестикратный астигматизм, ограничивающий разрешение после коррекции Cs. Комбинация ASCOR и Cold FEG дает низкую хроматическую аберрацию и расширяет дифракционный предел, достигая более высокого разрешения, чем когда-либо.

ВИДЕО

Каталоги

Products Guide 2023
Products Guide 2023
24 Страницы

Другие изделия Jeol

Scientific Instruments

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.