Электронный трансмиссионый микроскоп JEM-F200

для анализовсо светлым фономтемное поле

JEM-F200 — это новый трансмиссионный электронный микроскоп с автоэлектронной эмиссией, который отличается более высоким пространственным разрешением и аналитическими характеристиками, простой в использовании новой операционной системой для многоцелевой работы, элегантным внешним видом и различными экологически чистыми энергосберегающими системами. Особенности • Умный дизайн JEM-F200 имеет новый красивый внешний вид. Он включает в себя новый интуитивно понятный пользовательский интерфейс, специально разработанный для аналитической электронной микроскопии. Он также отличается выдающейся механической и электрической стабильностью, что отражает инженерный опыт JEOL, накопленный за многие годы. • Четырехлинзовая конденсорная система Современная электронная микроскопия требует поддержки широкого спектра методов визуализации, от светлопольной/темнопольной ПЭМ до STEM, в которой используются различные детекторы. JEM-F200 с новой 4-ступенчатой ​​оптической системой формирования зонда, то есть конденсорной системой с четырьмя линзами, независимо контролирует интенсивность и угол конвергенции электронного луча, чтобы соответствовать различным исследовательским требованиям. • Расширенная система сканирования JEM-F200 включает в себя новую систему сканирования Advanced Scan System, которая способна сканировать электронный луч в системах формирования датчика изображения. Это обеспечивает широкое поле STEM-EELS. • Пико Стейдж Драйв В JEM-F200 используется пикопривод столика, который способен управлять столиком с шагом 200 пикометров без пьезопривода и перемещать область просмотра в широком динамическом диапазоне от всей сетки образцов до изображений атомарного порядка.