Электронный микроскоп FOCUS PEEM

для лабораториймодульныйрежим реального времени

Поверхностная чувствительная микроскопия 20 нм Боковое разрешение Местная спектроскопия k-Space Imaging Простота в эксплуатации Совместимость с системами UHV MULTIPROBE UHV Продукт FOCUS Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) - это чрезвычайно мощный метод получения изображений, универсальность которого для топографической, химической и магнитной контрастной визуализации с высоким разрешением была продемонстрирована во многих лабораторных и синхротронных приложениях. Важный вклад в определение характеристик магнитных устройств, исследования Plasmon, химию поверхности и химический анализ с высоким латеральным разрешением в сочетании с синхротронным излучением, исследование процессов, разрешенных во времени, и k-образование - вот лишь несколько примеров активных исследований на основе PEEM. В отличие от сканирующего электронного микроскопа (СЭМ), PEEM напрямую снимает участки поверхности, излучающие фотоэлектроны в режиме реального времени, без сканирования Электронное излучение с поверхностей может быть вызвано различными способами - возбуждением фотонного излучения, термически, электронно-ионовой бомбардировкой или полевым излучением. На протяжении многих лет FOCUS-PEEM постоянно совершенствуется в производительности и удобстве использования. PEEM вместе со специальной интегрированной ступенью высокостабильного образца (ИС) и различными доступными энергетическими фильтрами следуют модульной концепции, легко обновляемой. Кроме того, работа с программным обеспечением обеспечивает эффективную и надежную работу PEEM даже на сложных образцах. Имея на рынке более 50 приборов, FOCUS IS-PEEM является мощным инструментом анализа поверхности.