＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 1 µm
... Физическая и химическая визуализация на единой платформе Полностью интегрированная система на базе современного сканирующего зондового микроскопа SmartSPM и полностью автоматизированного комбинационного микроспектрометра LabRAM HR Evolution. ...
... Автоматический атомно-силовой микроскоп со встроенным интеллектом FX40 позволяет получать самые четкие и ясные изображения с высоким разрешением одного образца за другим в различных приложениях. Он объединяет искусственный интеллект ...
Park Systems
... АСМ Park NX10 - это исследовательский АСМ для широкого спектра областей применения, начиная от полимеров, наноэлектроники, фотонных и фотоэлектрических приложений, биофизики и физической химии. Он оснащен настоящим бесконтактным АСМ, ...
Park Systems
Пространственное разрешение: 0,5 µm
... NX-Wafer - единственный АСМ для производства пластин с автоматическим просмотром дефектов. Он представляет собой полностью автоматизированное решение АСМ для визуализации и анализа дефектов, которое повышает производительность анализа ...
Park Systems
Пространственное разрешение: 3 µm - 100 µm
... Самый гибкий атомно-силовой микроскоп для исследования материалов Самая гибкая из доступных сканирующих головок Подходит для любого размера выборки Модульная концепция: настройте ваш FlexAFM в точном соответствии с вашими потребностями Для ...
Nanosurf
... Dimension Icon® от Bruker обеспечивает высочайший уровень производительности, функциональности и доступности АСМ для исследователей наноразмеров в науке и промышленности. Основанная на наиболее используемой в мире платформе АСМ для больших ...
Bruker Nano Surfaces
3D атомно-зондовый микроскоп с непревзойденной эффективностью трехмерного анализа в субнанометровом масштабе LEAP 5000 представляет собой ультрасовременный атомно-зондовый микроскоп производства CAMECA, обеспечивающий превосходную эффективность ...
... > 5 дней непрерывного измерения времени в различных магнитных полях при 11 л/эл Температура до 1 K при температуре 4He Сверхнизкий тепловой дрейф Магнитные поля BZ > 3 T Оптический доступ STM и QPlus® AFM Эргономичный дизайн и возможность ...
Scienta Omicron
Пространственное разрешение: 0,13, 0,1, 0,26 nm
... Система OS-AA SPM известна своей многофункциональностью и открытостью. Это платформа для экспериментов, которые являются нетрадиционными и представляют собой дальнейшее развитие, а не просто средство обнаружения. Это не просто средство ...
Angstrom Advanced
Пространственное разрешение: 1 nm
микроскоп сканирующее акустическое устройствоAM 300
... Линия SAM предлагает простые в использовании сканирующие акустические микроскопы для контроля технологического процесса и обеспечения качества, а также для научно-исследовательских целей. Отдельные модели производятся на компонентной ...
Пространственное разрешение: 0,05, 0,2 nm
Конструкция «все в одном», продуманная структура и форма. Сканирующая головка и предметный столик для образцов спроектированы вместе, обладают сильными антивибрационными характеристиками. Точное лазерное обнаружение и устройство выравнивания ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось