Атомно-силовая микроскоп LensAFM

для измеренийдля анализовдля контроля

Nanosurf LensAFM - это атомно-силовой микроскоп, который работает там, где оптические микроскопы и профилометры достигают своего предела разрешения. Он устанавливается как обычная объективная линза, что позволяет расширить разрешение и измерительные возможности этих приборов. LensAFM позволяет не только получать трехмерную информацию о топографии поверхности, но и анализировать различные физические свойства измеряемого образца. Бесшовная интеграция Во все возрастающем количестве ситуаций исследователи стремятся объединить методы оптической и атомно-силовой микроскопии. Простота использования, возможность скрининга и минимальные требования к подготовке образцов, которыми обладают оптические микроскопы, практически не имеют аналогов. Однако когда разрешения 100-кратного объектива недостаточно для изучения мелких деталей, выходящих за пределы разрешения прибора, на помощь приходит LensAFM. Его исключительно компактная конструкция и продуманный механизм крепления означают, что вам нужно только повернуть турель на оптическом микроскопе или профилометре и запустить сканирование. Усовершенствуйте оптическую микроскопию с помощью АСМ для углубленного изучения Поскольку разрешение оптической микроскопии ограничено длиной волны света, существует барьер в разрешении, которого вы можете достичь с помощью вашей оптической системы. Все большее число приложений требует сочетания оптической и атомно-силовой микроскопии. Кроме того, АСМ решает проблемы с определением характеристик прозрачных образцов или образцов, которые трудно оценить оптически. Но интерес представляет не только грубая топография образца: АСМ также позволяет получить знания о других свойствах материала,