Микроскоп AFM Alphacen 300

промышленныйавтоматизированный

Сканирующий АСМ наконечник для тяжелых и больших образцов размером до 300 мм -Стандартная система AFM - 300 мм х 300 мм стадия образца - Идеально подходит для образцов весом до 45 кг Наносурф является лидером на рынке систем, разработанных по индивидуальным заказам для больших и тяжелых образцов. За последние годы наша команда создала существенную базу знаний, разрабатывая эти пользовательские этапы для различных клиентов. Используя эти обширные знания, мы разработали стандартный продукт для больших образцов до 300 мм или тяжелых образцов до 45 кг. Alphacen 300 снижает цену и сроки поставки по сравнению с заказной системой. Запустить автоматические серии измерений Alphacen 300 включает в себя мощное программное обеспечение для автоматизации, которое позволяет пользователю предварительно выбирать интересующие его места на оптическом изображении или на карте сцены и позволяет системе собирать изображения без вмешательства пользователя. Тяжелые образцы стекла Большинство АСМ больших образцов способны обрабатывать плоские образцы размером до 200 мм, обычно предназначенные для анализа полупроводниковых пластин. Однако, одним из ограничений этих систем является вес образца, с которым они могут справиться. Alphacen 300 удовлетворяет потребность в стандартном АСМ, способном получать изображения больших и тяжелых образцов с пределом веса до 45 кг. Z-образный ход 50 мм также позволяет получать изображения образцов, которые не являются тонкой кремниевой пластиной. Большие, тяжелые образцы довольно часто встречаются в оптической промышленности, например, в производстве больших объективов и полупроводниковой промышленности, например, собранных кассет или готовых изделий.