Атомно-силовая микроскоп NaioAFMдля измеренийдля измерения шероховатости поверхностиучебный
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- атомно-силовая
- Применение
- для измерений, для измерения шероховатости поверхности, учебный, для контроля поверхности
- Конфигурация
- компактный, настольный, переносной
- Другие характеристики
- с цифровой камерой, высокое разрешение, простая установка
- Пространственное разрешение
МИН.: 14 µm
МАКС.: 70 µm
Описание
Ведущий АФМ в области нанообразования
Компактный и прочный
Простота использования
Реальное соотношение цены и качества
NaioAFM - идеальный атомно-силовой микроскоп для нанообразования и фундаментальных исследований на малых образцах. Эта универсальная система AFM обеспечивает надежную производительность и простоту в обращении, с ценником и занимаемой площадью, которая подходит для любого пользователя и в любом месте.
---
ВИДЕО
Каталоги
Nanosurf NaioAFM
4 Страницы
Isostage 300
2 Страницы
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп с цифровой камерой
- Микроскоп для письменного стола
- Микроскоп для измерений
- Микроскоп для анализов
- Микроскоп USB
- Прямой микроскоп
- Переносной микроскоп
- Учебный микроскоп
- Микроскоп высокое разрешение
- Автоматический микроскоп
- Промышленный микроскоп
- Компактный микроскоп
- Микроскоп для испытания материалов
- Микроскоп для исследований
- Переносной микроскоп
- Микроскоп 3D
- Модульный микроскоп
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.