Атомно-силовая микроскоп NaioAFM

для контроля поверхностидля измеренийдля измерения шероховатости поверхности

NaioAFM - идеальный атомно-силовой микроскоп для нанообразования и фундаментальных исследований небольших образцов. Эта универсальная АСМ-система обеспечивает высокую производительность и простоту в обращении, а ее цена и размеры подходят для любого человека и любого места. - Универсальная АСМ-система "подключи и работай - Все стандартные режимы работы - Известная простота в использовании Универсальная подключаемая система AFM Система NaioAFM состоит только из сканирующей головки, установленной на небольшой виброизолирующей платформе со встроенным контроллером. Настройка и подготовка к измерениям занимают всего несколько минут. Система NaioAFM идеально подходит для университетских курсов или учебных аудиторий. Она имеет прочную конструкцию и нечувствительна к неосторожному обращению со стороны начинающих пользователей, но при этом отлично работает с большим количеством образцов. Все стандартные режимы работы Несмотря на базовую конструкцию, NaioAFM может похвастаться универсальным набором режимов измерений. NaioAFM способен проводить измерения во всех стандартных режимах работы, и даже может выполнять базовые электрические характеристики и базовую силовую спектроскопию. Если вы изучаете АСМ или вам требуется только базовая функциональность АСМ для ваших исследований, NaioAFM является прибором выбора уже более десяти лет. Обучение занимает всего 10 минут NaioAFM - самый простой в использовании атомно-силовой микроскоп из когда-либо созданных. Благодаря встроенной поддержке управления, такой как чип для выравнивания кантилевера, вам даже не понадобятся идеально твердые руки, чтобы настроить этот АСМ для измерений. Он даже не требует лазерной юстировки - просто подключите все, установите кантилевер и образец, и уже через несколько минут вы получите первые результаты.